特許
J-GLOBAL ID：200903072569150570
コンタクトレス通信を目的とするデータキャリヤに対するモジュールを試験する試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
沢田 雅男
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-566688
公開番号（公開出願番号）：特表2002-523940
出願日： 1999年08月05日
公開日（公表日）： 2002年07月30日
要約：
【要約】【課題】 従来の試験装置が、モジュールからデジタルデータを試験装置に正しく転送することができるか否かを検査する場合にしか適していない等の問題点を解決すること。【解決手段】 コンタクトレス通信を目的とするデータキャリヤに対するモジュール(2)を試験する試験装置(1)は、それによって試験信号(TS)を発生させることができるキャリア信号(CS)を発生させるように構成されているキャリア信号発生器(14)と、試験されるキャリア信号発生器(14)とモジュール(2)の間に設けられている、好ましくは直列抵抗(31)であるインピーダンス(31)を含み、試験されるモジュール(2)のモジュール端子(5)より前に直接接続されている導電接続と、インピーダンス(31)のインピーダンス端子(32)に現れる試験信号(TS)を利用する間に、試験されるモジュール(2)のアナログ特性値(C, m)を決定する少なくとも一つの検出デバイス(34, 35)が設けられている試験装置(1)とを含む。
請求項（抜粋）：
コンタクトレス通信に対するデータキャリヤと共に使用されるように構成されていて、かつ集積部品、2つの転送手段端子に接続するための2つのモジュール端子を含むモジュールに、少なくとも一つの試験動作を実行するように構成されている試験装置であって、 それぞれを、試験されるモジュールのモジュール端子に接触させることができる、2つの試験端子と、 それによってキャリア信号を生成させることができるキャリア信号発生器と、 前記キャリア信号発生器と少なくとも一つの試験端子との間にあり、かつバイアを含むその前記キャリア信号発生器により出力されるキャリア信号に対応する試験信号を、前記少なくとも一つの試験端子に与えることが出来る信号パスとを含み、 試験されるモジュールのモジュール端子が前記試験端子に接触しているとき、試験される前記モジュールの前記集積部品に含まれる前記負荷変調手段が、前記試験信号を負荷変調させることが出来る、 試験装置において、 前記信号パスが、導電化されるように構成されていて、 インピーダンスが、前記少なくとも一つの試験端子の直前で前記信号パスに含まれていて、そして、 少なくとも一つの検出デバイスが、少なくとも一つの試験端子に接続されていて、その検出デバイスが、前記少なくとも一つの試験端子に与えることができる前記試験信号を使用して、そのモジュール端子により前記試験端子と接触している試験されるモジュールのアナログ特性値を決定するように構成されている、ことを特徴とする試験装置。
IPC (5件)：
H04B 17/00
, G01R 31/28
, G01R 31/316
, G01R 31/3183
, G01R 31/319
H04B 17/00 Z
, G01R 31/28 M
, G01R 31/28 Q
, G01R 31/28 R
, G01R 31/28 S
, G01R 31/28 C
2G132AA12
, 2G132AD01
, 2G132AD10
, 2G132AE06
, 2G132AE08
, 2G132AE14
, 2G132AE16
, 2G132AE22
, 2G132AE27
, 2G132AG01
, 2G132AG11
, 2G132AL11
, 2G132AL35
, 5K042BA08
, 5K042CA18
, 5K042EA14
, 5K042FA27
, 5K042GA12
, 5K042JA01
, 5K042LA11
