特許
J-GLOBAL ID：200903072667601793
イオンモビリティー分析装置及びイオンモビリティー分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
作田 康夫
, 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-293191
公開番号（公開出願番号）：特開2006-107929
出願日： 2004年10月06日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：
【課題】イオンモビリティー分析装置を提供する。【解決手段】第1のイオンを生成するイオン源1と、第1のイオンを飛行ドリフト時間により分離する第1のドリフト部(L1)と、分離された第1のイオンの解離を行ない第2のイオンを生成するイオン解離部(Lg)と、第2のイオンを飛行ドリフト時間により分離する第2のドリフト部(L2)とを有し、第1のドリフト部、イオン解離部、第2のドリフト部は、圧力が10mTorr以上であるチャンバー内に配置される。【効果】低コストで分解能の高いイオン分離検出ができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1のイオンを生成するイオン源と、前記第1のイオンを飛行ドリフト時間により分離する第1のドリフト部と、前記第1のドリフト部で分離された前記第1のイオンの解離を行ない第2のイオンを生成するイオン解離部と、前記第2のイオンを飛行ドリフト時間により分離する第2のドリフト部とを有することを特徴とするイオンモビリティー分析装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H01J49/40
, G01N27/62 G
, G01N27/62 K
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (6件)
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引用文献：
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