特許
J-GLOBAL ID:200903072937847951
半導体ウエハの研削装置
発明者:
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出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
西教 圭一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-200231
公開番号(公開出願番号):特開平11-045866
出願日: 1997年07月25日
公開日(公表日): 1999年02月16日
要約:
【要約】【課題】 砥石がフレームに接触しないように研削できる半導体ウエハの研削装置を提供する。【解決手段】 研削装置10は、半導体ウエハ20の表面を研削する砥石11と、表面に半導体ウエハ20を載置する伸縮自在の粘着シート12および粘着シート12を張り渡すリング13から成るウエハ保持部材17と、砥石11に対向して配置され、リング13を乗載するための周縁ステージ部15および断面形状が台形であってその上底が周縁ステージ部15よりも高い中央ステージ部14から成るステージ16とを備える。これによって、研削時に砥石11が半導体ウエハ20だけでなくリング13にも接触してしまう事態が回避され、正確な厚み加工が実現できる。
請求項(抜粋):
半導体ウエハの表面を研削する砥石と、前記半導体ウエハを載置する伸縮自在のシート、および該シートを張り渡すリング状のフレームから成るウエハ保持部材と、前記砥石に対向して配置され、フレームを乗載するための周縁ステージ部、および断面形状が台形であってその上底が周縁ステージ部の乗載面よりも高い中央ステージ部から成るステージとを備えることを特徴とする半導体ウエハの研削装置。
IPC (4件):
H01L 21/304 321
, H01L 21/304 331
, B24B 7/04
, B24B 41/06
FI (4件):
H01L 21/304 321 E
, H01L 21/304 331
, B24B 7/04 A
, B24B 41/06 L
引用特許: