欠陥の深さを判定する方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：松本研一 , 小倉博 , 伊藤信和 , 黒川俊久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-190615
公開番号（公開出願番号）：特開2005-024556
出願日： 2004年06月29日
公開日（公表日）： 2005年01月27日
要約：

【課題】部品表面(28)の検査を容易にする方法を提案する。【解決手段】方法は、検査されるべき部品(10)の表面を少なくとも1つの赤外線放射検出器(26)の光路(24)内に位置決めすることと、部品表面に存在する欠陥(70)からのラジアンスの増加を発生させるために、電磁放射を使用して部品表面を加熱することと、少なくとも1つの赤外線放射検出器を使用して、部品表面に沿って複数の所定の場所で表面放射照度が測定されるように、部品表面内部の温度変化を検出することとを含む。方法は、赤外線放射検出器により受信された放射過渡応答データを解析することにより、部品の亀裂を検出することと、検出された亀裂の深さを判定するために、温度変化を放射過渡応答データと相関することとを更に含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

部品表面まで達する亀裂(70)を検出する方法において、検査されるべき部品(10)の表面(28)を少なくとも1つの赤外線放射検出器(26)の光路(24)内に位置決めすることと、部品表面に存在する欠陥からのラジアンスの増加を発生させるために電磁放射を使用して部品表面を加熱することと、部品表面に沿った複数の所定の場所で表面放射照度が測定されるように、前記少なくとも1つの赤外線放射検出器を使用して部品表面内部の温度変化を検出することと、前記赤外線放射検出器(26)により受信された放射過渡応答データを解析することにより、前記部品(10)の亀裂(70)を検出することと、検出された亀裂(70)の深さを判定するために、温度変化を放射過渡応答データと相関することとから成る方法。

IPC (1件)：

G01N25/72

FI (1件)：

G01N25/72 Y

Fターム (10件)：

2G040AA06 , 2G040AB08 , 2G040BA08 , 2G040CA02 , 2G040CA23 , 2G040DA06 , 2G040DA15 , 2G040EA06 , 2G040HA02 , 2G040HA11

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平2-012044
特開平1-151246
表面探傷装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-107035 出願人：株式会社東芝

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