特許
J-GLOBAL ID：200903073236324268
光学式変位センサ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
倉内 義朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-280877
公開番号（公開出願番号）：特開2004-117161
出願日： 2002年09月26日
公開日（公表日）： 2004年04月15日
要約：
【課題】ダスト等の影響によって検出機能を損なうことなく、かつ、薄型で小型の光学式変位センサを実現する。【解決手段】測距対象物17に光を投射するための発光素子11と、投射する光の光軸R1と受光面12aが垂直になるように配置され、測距対象物17で反射した反射光を受光する受光素子12とを有する三角測距方式の光学式変位センサであって、測距対象物17に対して投射する光束を絞るスリット13と、測距対象物17で反射した反射光を絞るスリット14とを備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測距対象物に光を投射するための発光素子と、投射する光の光軸と受光面が垂直になるように配置され、測距対象物で反射した反射光を受光する受光素子とを有する三角測距方式の光学式変位センサにおいて、
測距対象物に対して投射する光束を絞るスリットと、測距対象物で反射した反射光を絞るスリットとを備えたことを特徴とする光学式変位センサ。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2F065AA06
, 2F065AA09
, 2F065DD02
, 2F065DD13
, 2F065FF09
, 2F065GG07
, 2F065GG12
, 2F065JJ16
, 2F065LL08
, 2F065LL28
