特許
J-GLOBAL ID：200903073302039596

半田ボール位置別検査データ集計方法および装置

発明者：
田中 弘文

田中 弘文 について

, 
船岩 慶

船岩 慶 について


出願人/特許権者：
オーエヌ電子株式会社

オーエヌ電子株式会社 について


代理人 (3件)： 伊藤 英彦 ,  森下 八郎 ,  吉田 博由
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-011589
公開番号（公開出願番号）：特開2004-228163
出願日： 2003年01月20日
公開日（公表日）： 2004年08月12日
要約：
【課題】球状の半田ボールをX線により検査した検査データを集計する半田ボール位置別集計方法を提供する。【解決手段】半田ボールの位置のイメージ画像と、半田ボール番号と、不良判定数総計と、指定されたボール位置の検査結果を各検査基板ごとに表示する集計一覧と、総合判定結果表とを表示する表示領域を設け、検査結果データから全基板またはロット単位に切り替えて不良数の範囲を選択し、半田ボール位置のイメージ像のいずれかを指定することにより、集計一覧のカーソル位置を指定されたボール番号に対応する位置に移動させ、半田ボール番号表示を変更したことに応じて、指定されたボール位置の検査結果を集計一覧に表示し、指定されたボール位置の全不良数合計を検査項目別に総合判定結果表示領域に表示する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
大規模集積回路を基板に半田付けしたときの球状の半田ボールをX線により検査した検査データを集計する半田ボール位置別集計方法であって、 前記検査結果データから各基板ごとに前記半田ボール接続箇所の合格率,不合格率,検査した大規模集積回路の不良箇所の傾向を一覧表示するとともに、予め定められた検査パラメータ設定基準値から合格と判定されるかを判別するためのグラフを表示することを特徴とする、半田ボール位置別検査データ集計方法。
IPC (3件)：
H05K3/34 ,  G01N23/04 ,  G06T1/00
FI (3件)：
H05K3/34 512A ,  G01N23/04 ,  G06T1/00 305Z
Fターム (31件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001KA03 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G051AA65 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CA20 ,  2G051CB10 ,  2G051EA12 ,  2G051EC02 ,  2G051FA01 ,  5B057AA03 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CB06 ,  5B057CB08 ,  5B057CE12 ,  5B057CE14 ,  5B057CE17 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB08 ,  5E319AA03 ,  5E319AB05 ,  5E319BB04 ,  5E319CC33 ,  5E319CD53
引用特許：
審査官引用 (4件)
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