特許
J-GLOBAL ID：200903073327227168
PCB簡易測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
竹本 松司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-257117
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083128
出願日： 1999年09月10日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：
【要約】【課題】 PCB簡易測定装置において、処理時間を短くし、少量の溶媒で濃縮処理を要することなくクリーンアップ及び分画を行う。【解決手段】 コプラナPCB類の測定において、コプラナPCB類を有機溶媒中に抽出する粗抽出の処理と分析計での分析処理との間で行うクリーンアップの処理及び分画処理を、従来のカラムクロマトグラフィーに代えて高速液体クロマトグラフィーで行う。高速液体クロマトグラフィーを用いることによって、クリーンアップ及び分画の処理時間を短くし、溶媒の量を少量とし、濃縮処理を不要とする。また、高速液体クロマトグラフィー中の各処理のカラムに対する送液を制御することによって、クリーンアップ及び分画を連続して処理する。また、高速液体クロマトグラフィーの導入を自動注入で行い、分画したコプラナPCB類の分取を自動分注で行うことによって、複数の試料についても連続的に処理する。
請求項（抜粋）：
PCB類を含む溶液からPCB類を分離する前処理を行い、分離したPCB類を分析するPCB簡易測定装置において、前記前処理を行う手段として、溶液を高圧導入する高速液体クロマトグラフィー、及び高速液体クロマトグラフィーの送液を制御する手段を備え、高速液体クロマトグラフィー及び分画分取手段によって、溶液から有機物を分解除去するクリーンアップ、PCB類の分画、及び分画したPCB類の分取の各処理を連続して行う、PCB簡易測定装置。
IPC (7件)：
G01N 30/06
, G01N 30/04
, G01N 30/14
, G01N 30/26
, G01N 30/46
, G01N 30/48
, G01N 30/88
G01N 30/06 E
, G01N 30/04 Z
, G01N 30/14 A
, G01N 30/26 A
, G01N 30/26 M
, G01N 30/46 A
, G01N 30/48 K
, G01N 30/88 C
