特許
J-GLOBAL ID:200903073499700930

表面疵マーキング装置およびマーキング付き金属帯ならびにその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高野 茂
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-283703
公開番号(公開出願番号):特開2001-066262
出願日: 1999年10月05日
公開日(公表日): 2001年03月16日
要約:
【要約】【課題】 表面の割れ・抉れ・めくれ上がりのような顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ疵を、未検出となることなく検出し、簡単な手段でその情報をユーザ側に知らせることが可能な表面疵マーキング装置ならびにマーキング付き金属帯およびその製造方法を提供する。【解決手段】 金属帯4の被検査面からの反射光を互いに異なる2種以上の光学条件で抽出する複数の受光部32a〜cと、これら互いに異なる光学条件で抽出された反射成分の組合せに基づき被検査面の表面疵の有無を判定する信号処理部30とを有する疵検査手段40と、金属帯4表面にその疵に関する情報を示すマーキングを行うマーキング手段44とを備えていることを特徴とする金属帯の表面疵マーキング装置。
請求項(抜粋):
金属帯の被検査面からの反射光を互いに異なる2種以上の光学条件で抽出する複数の受光部と、これら互いに異なる光学条件で抽出された反射成分の組合せに基づき被検査面の表面疵の有無を判定する信号処理部とを有する疵検査手段と、金属帯表面にその疵に関する情報を示すマーキングを行うマーキング手段とを備えていることを特徴とする金属帯の表面疵マーキング装置。
Fターム (11件):
2G051AA37 ,  2G051AB07 ,  2G051BA11 ,  2G051BB09 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CD07 ,  2G051DA06 ,  2G051DA15 ,  2G051EA16 ,  2G051EC01
引用特許:
審査官引用 (14件)
全件表示

前のページに戻る