特許
J-GLOBAL ID:200903073525050656
X線検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西村 教光
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-226409
公開番号(公開出願番号):特開2004-069386
出願日: 2002年08月02日
公開日(公表日): 2004年03月04日
要約:
【課題】X線検査装置の汚れや水洗い時の水の滞留をなくして清掃を適宜行う。【解決手段】X線発生部1が支持された装置筐体5に対し、X線検出部2が収容されるとともに搬送部3が配された金属箱6を傾倒可能とした。これにより、搬送部3を洗浄するための洗浄水および汚れが搬送部3の部位に滞留することなく流れ落ちるので清掃を適宜行うことができる。また、搬送部3を構成するローラ7や搬送ベルト8が金属箱6から外せるように構成すれば、金属箱6のみが装置筐体5に対して傾くので、洗浄水および汚れの滞留をよりなくすことができる。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
X線を発生するX線発生部(1)が支持された装置筐体(5)と、
前記X線発生部からのX線を検出するX線検出部(2)が収容された収容箱(6)と、
該収容箱に配されて前記X線発生部と前記X線検出部との間に被検査物(4)を搬送する搬送部(3)と、
前記収容箱を前記装置筐体に対して傾倒可能にして支持する支持機構(13)と、
を備えたことを特徴とするX線検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (13件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA07
, 2G001HA13
, 2G001JA07
, 2G001JA09
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA01
, 2G001PA11
, 2G001PA13
, 2G001RA05
引用特許: