特許
J-GLOBAL ID：200903073554946855
放射線計装システム校正方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
猪股 祥晃 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-135976
公開番号（公開出願番号）：特開2001-318160
出願日： 2000年05月09日
公開日（公表日）： 2001年11月16日
要約：
【要約】【課題】線源の移動点数を削減して、校正を簡略化した放射線計装システム校正方法を得る。【解決手段】放射線検出器4を、測定状態の位置であるほぼ直方体形状の測定対象容器の外側下部位置に設置し、放射線源6を前記測定対象容器内の一水平面内の複数の位置に移動させてその一水平面内の感度分布を前記放射線検出器の指示値から求め、前記放射線検出器とは別の放射線検出器により鉛直方向感度分布を相対値として求め、前記測定対象容器内水平面内の感度分布が各高さ位置で相似であると仮定して、前記一水平面内の感度分布と鉛直方向感度分布とに基づいて、線源の位置と線源強度により三次元的検出効率(指示値/放射線量率)を求める。
請求項（抜粋）：
放射線検出器を、測定状態の位置であるほぼ直方体形状の測定対象容器の外側下部位置に設置し、放射線源を前記測定対象容器内の一水平面内の複数の位置に移動させてその一水平面内の感度分布を前記放射線検出器の指示値から求め、前記放射線検出器とは別の放射線検出器によって鉛直方向感度分布を相対値として求め、前記測定対象容器内水平面内の感度分布が各高さ位置で相似であると仮定して、前記一水平面内の感度分布と鉛直方向感度分布とに基づいて、線源の位置と線源強度により三次元的検出効率(指示値/放射線量率)を求めることを特徴とする、放射線計装システム校正方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01T 7/00 C
, G01T 1/167 A
2G088EE06
, 2G088FF04
, 2G088KK29
, 2G088LL28
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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