特許
J-GLOBAL ID:200903073988214607

論理回路検証装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 横山 淳一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-138080
公開番号(公開出願番号):特開2001-318959
出願日: 2000年05月11日
公開日(公表日): 2001年11月16日
要約:
【要約】【課題】 ハードウェア記述言語を用いた論理回路設計の検証方法に関し、検証の効率と品質を向上する論理回路検証装置を提供することを目的とする。【解決手段】 検証対象のハードウェア記述から、設計者が予め挿入しておいた検証情報を抽出し、抽出した個々の検証情報に対応して検証用の信号を設定し、それぞれの信号にユニークな信号名を付与する。この信号が、検証時に信号の変化として現れるように対象ハードウェア記述を挿入し、回路データを作成する。回路データと検証情報から作成したプロパティとを入力としてプロパティ検証の実行を行い、回路動作を検証するように構成する。
請求項(抜粋):
論理回路動作の検証情報が含まれているハードウェア記述から検証情報を抽出する検証情報抽出手段と、抽出した検証情報に対応する検証用の信号を設定し、信号名を付与して検証情報データベースを作成する検証情報作成手段と、検証情報データベースを用いてハードウェア記述に検証用の信号情報を挿入し、検証用信号挿入後のハードウェア記述を回路データベースに変換するハードウェア記述変換手段と、検証情報データベースに含まれる検証情報の一部または全部を用いてプロパティを作成するプロパティ作成手段と、プロパティと回路データベースとを用いて検証を実施する検証実行手段と、を備えていることを特徴とする論理回路検証装置。
IPC (2件):
G06F 17/50 664 ,  H01L 21/82
FI (2件):
G06F 17/50 664 Z ,  H01L 21/82 C
Fターム (8件):
5B046AA08 ,  5B046BA03 ,  5B046JA01 ,  5B046KA05 ,  5F064AA02 ,  5F064HH06 ,  5F064HH08 ,  5F064HH12
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)

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