特許
J-GLOBAL ID：200903074222306867

イオントラップ形質量分析装置及びその制御方法

発明者：
佐伯 卓哉

佐伯 卓哉 について

, 
冨岡 勝

冨岡 勝 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-207232
公開番号（公開出願番号）：特開2001-035436
出願日： 1999年07月22日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：
【要約】【課題】バックグラウンドノイズを低減でき、最大感度で測定することができるイオントラップ形質量分析装置を提供する。【解決手段】イオントラップ形質量分析装置において、ゲート電極に正電圧及び負電圧を印加する電圧印加手段と、当該電圧印加手段で印加する電圧の大きさを制御する印加電圧制御手段とを有することを特徴とする。【効果】イオントラップ形質量分析装置を用いて試料の質量分析を行う際に、試料のマススペクトルピークのS/N比が最大かつ、ノイズピークが最小の条件での測定が可能となる。
請求項（抜粋）：
試料をイオン化するイオン源と、当該イオン源で生成されたイオンを一時的に保持するイオントラップと、前記イオン源と前記イオントラップの間に配置され、イオントラップへのイオンの導入を電気的に制御するゲート電極と、前記イオントラップから放出されたイオンを検出する検出器とを有するイオントラップ形質量分析装置において、前記ゲート電極に正電圧及び負電圧を印加する電圧印加手段と、当該電圧印加手段で印加する電圧の大きさを制御する印加電圧制御手段とを有することを特徴とするイオントラップ形質量分析装置。
IPC (2件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (2件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 E
Fターム (2件)：
5C038JJ01 ,  5C038JJ07
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (1件)

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