特許
J-GLOBAL ID：200903074260928529
測定装置の校正方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-077124
公開番号（公開出願番号）：特開2000-275315
出願日： 1999年03月23日
公開日（公表日）： 2000年10月06日
要約：
【要約】【課題】 被測定物の形状等に拘わらず測定器具による測定誤差を軽減し高確度の測定を行うために行うことができる測定装置の校正方法を提供する。【解決手段】 所定の周波数領域において任意且つ既知の周波数特性を有する校正用標準器を測定器具を介して測定装置に接続し、この校正用標準器の周波数特性を測定し、この測定した周波数特性及び前記既知の周波数特性に基づき所定の周波数特性を有する校正用補正値を算出し、この校正用補正値に基づき前記測定器具を用いた被測定物の測定時における測定装置の校正を行う。これにより、校正用標準器として複雑な特性を有するものを用いることができる。また、従来の測定装置や標準器に用いられていた標準器の定義値に関する表現方法に制約を受けることなく、任意の特性を有する校正用標準器を用いることができる。したがって、高確度の校正を行うことができる。
請求項（抜粋）：
測定器具を介して被測定物を測定装置に接続して行う所望の周波数帯域における被測定物の特性測定において、この測定に先立ち、前記周波数帯域において任意且つ既知の周波数特性を有する校正用標準器を前記測定器具を介して測定装置に接続し、この校正用標準器の周波数特性を測定し、この測定した周波数特性及び前記既知の周波数特性に基づき所定の周波数特性を有する校正用補正値を算出し、この校正用補正値に基づき前記測定器具を用いた被測定物の測定時における測定装置の校正を行うことを特徴とする測定装置の校正方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 35/00 L
, G01D 18/00
