特許
J-GLOBAL ID:200903074437094062

よう素除去効率試験方法及びよう素除去フィルタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 清水 善廣 ,  阿部 伸一 ,  辻田 幸史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-305504
公開番号(公開出願番号):特開2005-077155
出願日: 2003年08月28日
公開日(公表日): 2005年03月24日
要約:
【課題】 非放射性同位元素を使用し、検出精度を高めることができるガスクロマトグラフを利用したよう素除去効率試験方法及びよう素除去フィルタを提供する。【解決手段】 供試フィルタの上流側と下流側のヨウ化メチル濃度を光イオン化式電子捕獲型検出器(光イオン化式ECD)及び/又は水素炎イオン化型検出器(FID)を備えるガスクロマトグラフを使用して測定することを特徴とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
供試フィルタの上流側と下流側のヨウ化メチル濃度を光イオン化式電子捕獲型検出器(光イオン化式ECD)及び/又は水素炎イオン化型検出器(FID)を備えるガスクロマトグラフを使用して測定することを特徴とするよう素除去効率試験方法。
IPC (9件):
G01N30/88 ,  G01N15/08 ,  G01N27/62 ,  G01N27/64 ,  G01N30/14 ,  G01N30/40 ,  G01N30/46 ,  G01N30/68 ,  G01N30/70
FI (9件):
G01N30/88 G ,  G01N15/08 A ,  G01N27/62 A ,  G01N27/64 B ,  G01N30/14 A ,  G01N30/40 ,  G01N30/46 E ,  G01N30/68 Z ,  G01N30/70
引用特許:
審査官引用 (11件)
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