特許
J-GLOBAL ID：200903074476479184
対象物測定装置
出願人/特許権者：
国立大学法人佐賀大学
国立大学法人佐賀大学 について
代理人 (1件)： 平井 安雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-042929
公開番号（公開出願番号）：特開2008-203221
出願日： 2007年02月22日
公開日（公表日）： 2008年09月04日
要約：
【課題】透明体又は導電体からなる測定対象物の光厚さ及び電気特性を用いて単一の検知手段(センサ)で測定対象物の厚さ及び位置を簡易で迅速且つ確実に測定できる測定装置を提供する。【解決手段】前記測定対象物100が透明体の場合は不透明な部材を背面に配設し、導電体の場合は不導電体の部材を背面に配設し、該測定対象物に光を照射して対象物からの反射光を受光し、該受光光により二つの電極の抵抗値を変化させる複数の光導電素子を所定の間隔で離隔配設し、複数の光導電素子の少なくとも一の光導電素子の一方の電極に交流電源が接続されると共に、他の光導電素子の一方の電極が出力端子として形成される検知手段2と、予め検出された前記測定対象物に関する厚さ及び位置情報が基準データとして格納される基データベースメモリ32と、前記検知手段からの検知信号及び基準データに基づき前記測定対象物の厚さ及び位置を判別する判別手段3とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
透明体又導電体からなる測定対象物に対して光を照射する光照射手段と、
前記測定対象物が透明体の場合は不透明な部材を背面に配設し、測定対象物が導電体の場合は不導電体の部材を背面に配設し、当該各々配設された測定対象物に光を照射して測定対象物からの反射光を受光し、当該受光光により二つの所定面積を有する電極間光の光電半導体の抵抗値を変化させる複数の光導電素子を所定の間隔で離隔配設し、前記複数の光導電素子の少なくとも一の光導電素子の一方の電極に交流電源が接続されると共に、他の光導電素子の一方の電極が出力端子として形成される検知手段と、
前記検知手段の検知動作と同じ条件で予め検出された前記測定対象物に関する厚さ情報及び位置情報が基準データとして格納される基準データ記録手段と、
前記検知手段の出力端子からの検知信号及び基準データに基づき前記測定対象物の厚さ及び位置を判別する測定対象物判別手段とを備えることを
特徴とする対象物測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (18件)：
2F065AA03
, 2F065AA07
, 2F065AA16
, 2F065AA30
, 2F065BB22
, 2F065FF42
, 2F065FF61
, 2F065GG07
, 2F065GG24
, 2F065HH12
, 2F065JJ05
, 2F065JJ18
, 2F065QQ03
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065RR07
, 2F065UU03
, 2F065UU05
引用特許：
出願人引用 (3件)
引用文献：
-
対象物測定装置
公報種別：公開公報 出願番号：特願2005-240479 出願人：国立大学法人佐賀大学 -
光学部材検査装置
公報種別：公開公報 出願番号：特願2004-128081 出願人：ペンタックス株式会社 -
特開平3-125904
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