特許
J-GLOBAL ID:200903074543570728

位置推定システム、及び、位置推定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 木森 有平 ,  浅野 典子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-094173
公開番号(公開出願番号):特開2008-249640
出願日: 2007年03月30日
公開日(公表日): 2008年10月16日
要約:
【課題】 測定対象の位置を高い精度で推定可能な位置推定システム及び位置推定方法を提供する。【解決手段】 測定対象の位置を示す測定データを取得すると、当該測定データに基づいて座標系上に所定の確率分布P(x)を設定し、当該確率分布P(x)を用いてパーティクルをサンプリングするパーティクルフィルタを備え、当該パーティクルフィルタによりサンプリングしたパーティクルから当該測定対象の位置を推定する位置推定システムにおいて、前記パーティクルフィルタに用いる確率分布P(x)は、最高確率が所定の範囲で均一であることを特徴とする。【選択図】 図5
請求項(抜粋):
測定対象の位置を示す測定データを取得すると、当該測定データに基づいて座標系上に所定の確率分布を設定し、当該確率分布を用いてパーティクルをサンプリングするパーティクルフィルタを備え、当該パーティクルフィルタによりサンプリングしたパーティクルから当該測定対象の位置を推定する位置推定システムにおいて、 前記パーティクルフィルタに用いる確率分布は、最高確率が所定の範囲で均一であることを特徴とする位置推定システム。
IPC (1件):
G01S 5/02
FI (1件):
G01S5/02 Z
Fターム (2件):
5J062CC11 ,  5J062DD23
引用特許:
審査官引用 (4件)
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