回路動作検証方法及び検証装置

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：前田弘 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-290709
公開番号（公開出願番号）：特開2002-175345
出願日： 2001年09月25日
公開日（公表日）： 2002年06月21日
要約：

【要約】【課題】被検証半導体回路の各構成素子が電圧や電流の電気的規格、及び電圧印加時間などの時間的規格を満たすか否かを自動で高速に検証する。【解決手段】ステップS1の初期化処理では、回路図データ(ネットリスト)と、各素子の規格情報と、動作シミュレーションに用いる電圧又は電流の時間的波形である入力データとを入力し、前記回路図データはメモリに展開する。その後、ステップS2〜S10において前記回路図データと入力データとを用いて被検証半導体回路の動作をシミュレーションし、各回路素子の入力端子などでの時々刻々の電圧値、電流値を前記メモリ上に格納する。この動作シミュレーション時において、前記メモリに格納された電圧値、電流値に基づいて、各回路素子が、対応する電圧規格、電流規格、及び時間的規格を満たすかどうかも同時に検証する。

請求項（抜粋）：

多数の回路素子がレイアウト設計された半導体回路において、前記各回路素子が規格を満たすことを検証する回路動作検証方法であって、前記各回路素子に印加する電圧及び電流の電気的規格である条件情報と、前記被検証半導体回路の接続情報を表す回路図データと、回路動作シミュレーションに使用する電圧及び電流の時間に対する入力パターンとを読み込み、前記読み込んだ回路図データ及び入力パターンに基づいて、前記被検証半導体回路の各回路素子での時間に対する電圧又は電流の値を計算し、且つこの計算値をメモリに格納しつつ、前記被検証半導体回路の動作をシミュレーションすると共に、前記メモリに格納された各回路素子での電圧値又は電流値を用いて、前記被検証半導体回路の各回路素子が前記読み込んだ条件情報の規格を満たすか否かを検証することを特徴とする回路動作検証方法。

IPC (4件)：

G06F 17/50 666 , G06F 17/50 662 , G01R 31/28 , H01L 21/82

FI (4件)：

G06F 17/50 666 T , G06F 17/50 662 G , H01L 21/82 T , G01R 31/28 F

Fターム (26件)：

2G132AA00 , 2G132AB02 , 2G132AC11 , 2G132AE14 , 2G132AE16 , 2G132AE18 , 2G132AE23 , 2G132AG01 , 2G132AL09 , 2G132AL11 , 5B046AA08 , 5B046BA04 , 5B046JA01 , 5B046JA04 , 5F064BB12 , 5F064BB21 , 5F064BB40 , 5F064CC09 , 5F064DD04 , 5F064HH06 , 5F064HH07 , 5F064HH09 , 5F064HH10 , 5F064HH14 , 5F064HH15 , 5F064HH17

引用特許：

審査官引用 (8件)

伝送線路ノイズ解析結果判定方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-127230 出願人：株式会社日立製作所, 日立プロセスコンピュータエンジニアリング株式会社
レイアウト検証システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-164925 出願人：日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
回路評価方法及び回路評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-046192 出願人：富士通株式会社

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