特許
J-GLOBAL ID：200903075718229540
保護剤塗布装置、プロセスカートリッジ、画像形成装置、固体表面付着物の存在量評価方法、保護剤塗布装置の評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
本多 章悟
, 樺山 亨
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-011281
公開番号（公開出願番号）：特開2009-175219
出願日： 2008年01月22日
公開日（公表日）： 2009年08月06日
要約：
【課題】像担持体上の保護剤の塗布量を評価して、保護剤塗布装置の良否を評価する。【解決手段】ATR法により測定される像担持体のIRスペクトルAと、保護剤塗布後の像担持体のIRスペクトルBを比較し、保護剤に由来するピークと重ならない像担持体由来の二以上のピークのうち、スペクトルA中の波数の大きい方のピークをa1、波数の小さい方のピークをa2とし、a1、a2と波数の対応するスペクトルB中のピークをb1、b2とし、a1の高さをh(a1)、b1の高さをh(b1)としたとき、IRスペクトルAを[h(b1)/h(a1)]倍したスペクトルをIRスペクトルBから差し引いて得られるスペクトルC中で、a1、a2と波数の対応するピークをc1、c2とし、IRスペクトルB中のb1の面積をS(b1)、IRスペクトルC中のc2の面積をS(c2)としたとき、その比(S(c2)/S(b1))を指標として、像担持体上の保護剤の存在量を評価する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
像担持体の表面に保護剤を塗布する保護剤塗布装置において、
赤外吸収スペクトル法のATR(Attenuated Total Reflection)法において、ATRプリズムとしてGe、赤外光入射角として45°の条件で測定を行い得られるIRスペクトルについて、保護剤塗布前の像担持体のIRスペクトルAと保護剤塗布後の像担持体のIRスペクトルBを比較したとき、
前記IRスペクトルAおよび前記IRスペクトルBの両者に存在する前記像担持体に由来したピークであって、該像担持体由来ピークのうち、前記IRスペクトルB中の保護剤に由来するピークと重ならないピークが少なくとも二つ以上存在し、該二つのピークのうち前記IRスペクトルA中の波数の大きい方のピークをピークa1、波数の小さい方のピークをピークa2とし、ピークa1、a2と波数が同じ位置で検出される、波数の対応する前記IRスペクトルB中のピークをピークb1、b2とし、
前記IRスペクトルA中のピークa1の高さをh(a1)、前記IRスペクトルB中のピークb1の高さをh(b1)としたとき、前記IRスペクトルAを[h(b1)/h(a1)]倍したスペクトル(IRスペクトルA’とする)を、IRスペクトルBから差し引いて得られるスペクトルをIRスペクトルCとし、該IRスペクトルC中でピークa1、a2と波数が同じ位置で検出される、波数の対応するピークをピークc1、c2とし、
前記IRスペクトルB中のピークb1の面積をS(b1)、前記IRスペクトルC中のピークc2の面積をS(c2)としたとき、面積S(b1)と面積S(c2)との比(S(c2)/S(b1))を指標として、前記像担持体上の保護剤の存在量を評価する評価方法を用い、
前記ピークb1を1770cm-1のピークとし、前記ピークc2を815cm-1のピークとして前記像担持体上の保護剤の存在量を評価したとき、
前記保護剤を20分塗布した後の前記像担持体における前記指標(S(c2)/S(b1))の値が0.012以上、前記保護剤を100分塗布した後の前記像担持体における前記指標(S(c2)/S(b1))の値が0.10以下となることを特徴とする保護剤塗布装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (13件)：
2G059AA05
, 2G059CC12
, 2G059HH01
, 2H134GA01
, 2H134GB02
, 2H134KA40
, 2H134KB13
, 2H134KF03
, 2H134KF05
, 2H134KG08
, 2H134KH01
, 2H134LA01
, 2H134LA02
