特許
J-GLOBAL ID:200903075835325844
フラッシュメモリの安全な高温作動のための装置及び方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
社本 一夫 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-248600
公開番号(公開出願番号):特開2002-163895
出願日: 2001年08月20日
公開日(公表日): 2002年06月07日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 高温での使用によってデータが失われないようにする。【解決手段】 装置10にはと、温度センサー18とフラッシュメモリ12とに結合された制御ユニット16とが設けられている。制御ユニット16はタイマーを持っていて、温度センサーから得た温度の値を時間に関して積分することによって、フラッシュメモリの蓄積された熱負荷の値を確立できるようになっている。蓄積された熱負荷値が予め規定された値の限界を超えたとき、及びフラッシュメモリの実際の温度が予め規定された温度の限界以下になったときに、データの組の一貫性の検査がなされ、一貫性がないことがはっきりしたときに、フラッシュメモリ内の誤ったデータの組が一貫性を有するように正しいデータの組に基づいて再プログラミングされる。
請求項(抜粋):
高温での使用に先立って、フラッシュメモリ(12)内のデータの各組が冗長検査を受けるようにプログラムされているフラッシュメモリ(12)の安全な高温での動作のための装置(10)であって、フラッシュメモリの温度の特徴を示す温度を検知する温度センサー(18)と、同温度センサーとフラッシュメモリとに接続された制御ユニット(16)であって、タイマーを含み且つ温度センサーから温度信号を受け取り且つ測定した温度の値を時間について積分することにより、フラッシュメモリの蓄積された熱負荷の値を確立することができるような構造とされている、制御ユニットと、を含み、同制御ユニットは、蓄積された熱負荷値が予め規定された熱負荷値の限界を超え、フラッシュメモリの実際の温度を示す温度が、フラッシュメモリの安全なクリアリング/プログラミングが可能なように選択された予め規定された温度の限界以下に低下したときに、データの組をチェックして一貫性検査をし、次いで、データの組と組み合わせられたフラッシュメモリ内の記憶位置のリフレッシュを実行することができるデータの一貫性検査を達成したとき、及び冗長に記憶されたデータの組の一以上が、それと適合する一以上の対応するデータの組に対して一貫性がないことがはっきりしたときに、正しいデータの組に対して一貫性を有するように、誤ったデータの組を再プログラムすることによって、正しいデータの組に基づいてフラッシュメモリを修復することができるようになされた、装置。
IPC (5件):
G11C 29/00 601
, F16H 61/12
, G06F 12/16 330
, G11C 16/02
, F16H 59:72
FI (5件):
G11C 29/00 601 Z
, F16H 61/12
, G06F 12/16 330 D
, F16H 59:72
, G11C 17/00 601 Q
Fターム (27件):
3J552MA01
, 3J552NA01
, 3J552PA01
, 3J552PA51
, 3J552PB04
, 3J552PB09
, 3J552PB10
, 3J552RA30
, 3J552SA30
, 3J552TB17
, 3J552VA47W
, 3J552VA47X
, 3J552VA76W
, 5B018GA04
, 5B018HA03
, 5B018KA22
, 5B018NA06
, 5B025AD04
, 5B025AD05
, 5B025AD13
, 5B025AD16
, 5B025AE08
, 5B025AE09
, 5L106AA10
, 5L106BB03
, 5L106BB11
, 5L106CC36
引用特許:
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