特許
J-GLOBAL ID：200903076074522787

X線検査方法、システムおよび装置

発明者：
植山 英弘

植山 英弘 について


出願人/特許権者：
アンリツ産機システム株式会社

アンリツ産機システム株式会社 について


代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-045906
公開番号（公開出願番号）：特開2006-234423
出願日： 2005年02月22日
公開日（公表日）： 2006年09月07日
要約：
【課題】 蓄積した検査データを識別子情報の判読の難易に関わらず確実に抽出することができるX線検査方法、システムおよび装置を提供する。 【解決手段】 被検査物Wの各部X線透過量に基づいてその被検査物の状態を判定するとともにX線画像を作成するX線検査方法であって、外観識別可能でX線画像上に識別可能に写し出される識別子情報を各被検査物Wに付加する識別情報付加工程と、識別子情報が付加された各被検査物WにX線を照射し、被検査物の各部X線透過量を検出する検出工程と、被検査物Wの各部X線透過量に基づいて被検査物W中における異物の有無を判定する状態判定工程と、被検査物Wの各部X線透過量に基づいて識別子情報の表示内容を含むX線画像を生成するX線画像生成工程とを含んでいる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被検査物(W)の各部X線透過量に基づいて該被検査物の状態を検査するとともに、前記X線透過量に対応する濃度のX線画像(Px)を作成するX線検査方法であって、 外観識別可能で前記X線画像上に識別可能に写し出される識別子情報を各被検査物に付加する識別情報付加工程と、 前記識別子情報が付加された各被検査物にX線を照射し、該被検査物の各部X線透過量を検出する検出工程と、 前記被検査物の各部X線透過量に基づいて前記被検査物の状態を判定する状態判定工程と、 前記被検査物の各部X線透過量に基づいて前記識別子情報の表示内容を含むX線画像を生成するX線画像生成工程と、を含むことを特徴とするX線検査方法。
IPC (2件)：
G01N 23/04 ,  G01V 5/00
FI (2件)：
G01N23/04 ,  G01V5/00 A
Fターム (26件)：
2G001AA01 ,  2G001AA07 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001BA15 ,  2G001CA01 ,  2G001CA07 ,  2G001CA10 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001GA03 ,  2G001GA06 ,  2G001HA10 ,  2G001HA13 ,  2G001HA20 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001KA05 ,  2G001LA20 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  2G001RA06
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
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