特許
J-GLOBAL ID：200903076339482987
電子回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 和男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-289268
公開番号（公開出願番号）：特開2006-105630
出願日： 2004年09月30日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：
【課題】誘導性結合によって基板間通信を行う電子回路を試験するのに好適で、テスト用のパッドを使わなくても電子回路を試験することができる電子回路試験装置を提供すること。【解決手段】第1、第2送信コイル21a、21b、及び第1、第2受信コイル23a、23bによる誘導性結合で構成される通信チャネルにプローブ15を介入させて、テスタ11、バッファ12、13、及びTx/Rxスイッチ14によってLSIを試験する。これにより、電子回路試験装置に電子回路のパッドやリードと接触する針を設ける必要がなくなり寿命を長くすることができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
信号を送信及び受信するコイルを有するプローブを備えることを特徴とする電子回路試験装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
2G132AA00
, 2G132AF16
, 2G132AG01
, 2G132AL00
