特許
J-GLOBAL ID:200903076418104025
チャンバークリーニング方法、成膜装置、及び半導体装置の製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
工藤 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-349387
公開番号(公開出願番号):特開2003-151971
出願日: 2001年11月14日
公開日(公表日): 2003年05月23日
要約:
【要約】【課題】 フッ素を含むクリーニングガスを使用してプラズマを発生するチャンバークリーニング方法のクリーニング効率を向上する。【解決手段】 本発明によるチャンバークリーニング方法は、フッ素を含むクリーニングガスをチャンバー(1)に供給することと、そのクリーニングガスがチャンバー(1)に導入された状態で、誘導結合プラズマをチャンバー(1)に発生し、チャンバー(1)をクリーニングすることとを備えている。フッ素を含むクリーニングガスの誘導結合プラズマを用いてチャンバーをクリーニングすることにより、チャンバー(1)のクリーニング効率が向上する。
請求項(抜粋):
フッ素を含むクリーニングガスをチャンバーに供給することと、前記クリーニングガスが前記チャンバーに導入された状態で、誘導結合プラズマを前記チャンバーに発生し、前記チャンバーをクリーニングすることとを備えたチャンバークリーニング方法。
IPC (3件):
H01L 21/31
, C23C 16/44
, H01L 21/3065
FI (3件):
H01L 21/31 C
, C23C 16/44 J
, H01L 21/302 N
Fターム (31件):
4K030BA29
, 4K030BA35
, 4K030BA40
, 4K030DA06
, 4K030JA06
, 5F004AA15
, 5F004BA20
, 5F004BB11
, 5F004BC03
, 5F004BD04
, 5F004CA02
, 5F004DA00
, 5F004DA17
, 5F004DB03
, 5F004DB07
, 5F045AA08
, 5F045AB32
, 5F045AB33
, 5F045AB34
, 5F045AC01
, 5F045AC02
, 5F045AC11
, 5F045AC15
, 5F045AC16
, 5F045EB06
, 5F045EE04
, 5F045EE17
, 5F045EH02
, 5F045EH11
, 5F045HA02
, 5F045HA12
引用特許: