特許
J-GLOBAL ID:200903076418104025

チャンバークリーニング方法、成膜装置、及び半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 工藤 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-349387
公開番号(公開出願番号):特開2003-151971
出願日: 2001年11月14日
公開日(公表日): 2003年05月23日
要約:
【要約】【課題】 フッ素を含むクリーニングガスを使用してプラズマを発生するチャンバークリーニング方法のクリーニング効率を向上する。【解決手段】 本発明によるチャンバークリーニング方法は、フッ素を含むクリーニングガスをチャンバー(1)に供給することと、そのクリーニングガスがチャンバー(1)に導入された状態で、誘導結合プラズマをチャンバー(1)に発生し、チャンバー(1)をクリーニングすることとを備えている。フッ素を含むクリーニングガスの誘導結合プラズマを用いてチャンバーをクリーニングすることにより、チャンバー(1)のクリーニング効率が向上する。
請求項(抜粋):
フッ素を含むクリーニングガスをチャンバーに供給することと、前記クリーニングガスが前記チャンバーに導入された状態で、誘導結合プラズマを前記チャンバーに発生し、前記チャンバーをクリーニングすることとを備えたチャンバークリーニング方法。
IPC (3件):
H01L 21/31 ,  C23C 16/44 ,  H01L 21/3065
FI (3件):
H01L 21/31 C ,  C23C 16/44 J ,  H01L 21/302 N
Fターム (31件):
4K030BA29 ,  4K030BA35 ,  4K030BA40 ,  4K030DA06 ,  4K030JA06 ,  5F004AA15 ,  5F004BA20 ,  5F004BB11 ,  5F004BC03 ,  5F004BD04 ,  5F004CA02 ,  5F004DA00 ,  5F004DA17 ,  5F004DB03 ,  5F004DB07 ,  5F045AA08 ,  5F045AB32 ,  5F045AB33 ,  5F045AB34 ,  5F045AC01 ,  5F045AC02 ,  5F045AC11 ,  5F045AC15 ,  5F045AC16 ,  5F045EB06 ,  5F045EE04 ,  5F045EE17 ,  5F045EH02 ,  5F045EH11 ,  5F045HA02 ,  5F045HA12
引用特許:
審査官引用 (4件)
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