特許
J-GLOBAL ID:200903076558071003

III族窒化物系化合物半導体素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤谷 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-322541
公開番号(公開出願番号):特開2005-093578
出願日: 2003年09月16日
公開日(公表日): 2005年04月07日
要約:
【課題】III族窒化物系化合物半導体素子の静電耐圧を向上させる。【解決手段】III族窒化物系化合物半導体素子100のアクセプタ不純物の添加されたp-AlGaN層107とp-GaN層109の間に中間層108を設ける。このとき、p-AlGaN層107を形成する際に用いられたアクセプタ不純物の、中間層108への混入によるホール発生を補償する濃度にドナー不純物を添加する。中間層108は極めて伝導度の低い層となり、III族窒化物系化合物半導体素子100の静電耐圧が著しく向上する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
アクセプタ不純物の添加された第1のp層と第2のp層とを有するIII族窒化物系化合物半導体素子において、 前記第1のp層と前記第2のp層との間に中間層を有し、 前記中間層は、製造工程で混入されるアクセプタ不純物によるホール発生を略補償する濃度に、ドナー不純物が添加されていることを特徴とするIII族窒化物系化合物半導体素子。
IPC (1件):
H01L33/00
FI (1件):
H01L33/00 C
Fターム (11件):
5F041AA21 ,  5F041AA43 ,  5F041AA44 ,  5F041CA04 ,  5F041CA05 ,  5F041CA40 ,  5F041CA57 ,  5F041CA58 ,  5F041CA83 ,  5F041CA92 ,  5F041CB15
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 窒化物半導体素子
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-286728   出願人:日亜化学工業株式会社
審査官引用 (5件)
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