特許
J-GLOBAL ID：200903076590689698
学習ベ-スの性能予測を伴う放射線透過検査システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
生沼 徳二 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-339546
公開番号（公開出願番号）：特開2000-195696
出願日： 1999年11月30日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：
【要約】【課題】 放射線透過撮像システムの性能を評価する方法を提供する。【解決手段】 (1)自動照射制御装置(AEC)構成部分を使用して平均画像グレイ・レベルを予測し、(2)AEC構成部分のX線影の中に位置するX線検出器の部分から実測平均画像グレイ・レベルを得て、(3)予測値と実測値を比較することによって、システム性能の監視を実施する放射線透過撮像システムを開示する。予測値は、連続する照射を経て学習システムによって変更される予測モデルによって決定され、より正確な予測を提供する。学習システムが予測モデルを十分に開発した後に、予測と実測とのグレイ・レベル値の誤差をその後の照射において監視することができ、誤差が所定のしきい値を超えた場合には誤差ルーチンを活動化することができる。
請求項（抜粋）：
X線発生装置と、複数の線量センサを有する線量監視装置と、X線検出器とを含む放射線透過撮像システムの性能を評価する方法であって、各線量センサに同時入射するX線が検出器上の対応する領域に同時に入射し、a.1つまたは複数の線量センサを選択するステップと、b.X線発生装置を動作させるステップと、c.平均画像グレイ・レベルが選択された線量センサに対応する検出器の領域から計算される、平均画像グレイ・レベルを計算するステップとを含む方法。
IPC (2件)：
H05G 1/26
, A61B 6/00 320
H05G 1/26 J
, H05G 1/26 T
, A61B 6/00 320 Z
