特許
J-GLOBAL ID:200903076679821492

分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-051894
公開番号(公開出願番号):特開2009-210318
出願日: 2008年03月03日
公開日(公表日): 2009年09月17日
要約:
【課題】サービス担当者等が装置の不具合原因の究明を行う際に有用な情報を提供する。【解決手段】初期化実行機能部31は装置起動時に各ハードウエアの初期化処理・自己診断を実行し、その結果を成否に拘わらず、起動時刻とともに運転履歴として不揮発性メモリ4の中の専用領域に格納してゆく。また、同時にその専用領域には通算起動回数を書き込んでおく。分析実行時にエラーが発生した場合には、エラー処理機能部32がエラーの種類と通算起動回数とをエラー履歴として不揮発性メモリ4の中の専用領域に格納してゆく。故障等の不具合の際には、運転履歴とエラー履歴とが読み出されて表示部8に表示され、サービス担当者は過去に遡った初期化不良や、エラー発生時の初期化不良の状態などを確認し、不具合の箇所を迅速に見つけることができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
試料に対し分析を行う分析装置であって、 a)電源投入直後又は所定の指示に応じて、当該装置の各部の初期化及び各部の動作が正常であるか否かをチェックする自己診断を実施する初期化手段と、 b)前記初期化手段による初期化及び自己診断が実施される毎に、その結果を運転履歴として、時系列順序が識別可能であるように不揮発性記憶手段に格納する運転履歴記憶手段と、 c)所定の指示に応じて前記不揮発性記憶手段に格納されている運転履歴を読み出して表示又は印刷のために出力する出力手段と、 を備えることを特徴とする分析装置。
IPC (2件):
G01N 35/00 ,  G01J 3/02
FI (2件):
G01N35/00 F ,  G01J3/02 C
Fターム (16件):
2G020CC02 ,  2G020CD03 ,  2G020CD13 ,  2G020CD37 ,  2G020CD38 ,  2G058GA02 ,  2G058GE08 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059JJ05 ,  2G059KK01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059PP04 ,  2G059PP10
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 分光光度計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-399711   出願人:株式会社島津製作所
審査官引用 (5件)
  • 分光光度計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-399711   出願人:株式会社島津製作所
  • 断線判定方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2006-132554   出願人:オリンパス株式会社
  • 医療用装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-243633   出願人:富士写真フイルム株式会社
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