特許
J-GLOBAL ID：200903077026304138

変位測定装置

発明者：
佐藤 貢一

佐藤 貢一 について

, 
長瀧 慶明

長瀧 慶明 について


出願人/特許権者：
大成建設株式会社

大成建設株式会社 について


代理人 (1件)： 磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-212017
公開番号（公開出願番号）：特開2004-053437
出願日： 2002年07月22日
公開日（公表日）： 2004年02月19日
要約：
【課題】本発明は、建造物等の変位量を測定するために、建造物の任意の箇所に簡単に設置できると共に高精度の測定ができる変位測定装置を提供する。【解決手段】構造物駆体4の水平方向に設置された光ファイバ3Aと高さ方向に光ファイバ3Bが設置されて直列に連結されている状態で、構造物駆体4が僅かに傾くと、光ファイバ3A(3B)は収縮すると共に内部で反射光が生じ、この反射光と入射光の周波数の変化を測定することで、変形があった構造物駆体4の場所と、変位量を解析装置2で測定する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
光ファイバをコイル状に形成すると共に、前記コイルの伸縮によって発生する歪から変位量を測定することを特徴とする変位測定装置。
IPC (2件)：
G01B11/16 ,  G01D21/00
FI (2件)：
G01B11/16 Z ,  G01D21/00 D
Fターム (11件)：
2F065AA01 ,  2F065AA65 ,  2F065CC14 ,  2F065DD16 ,  2F065FF48 ,  2F065GG08 ,  2F065GG24 ,  2F065LL02 ,  2F076BB07 ,  2F076BD06 ,  2F076BE02
引用特許：
審査官引用 (9件)
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