加熱測定装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岩橋祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-301983
公開番号（公開出願番号）：特開2003-106996
出願日： 2001年09月28日
公開日（公表日）： 2003年04月09日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は、加熱状態での被測定試料の拡散反射スペクトルを測定する際に、高温による測定装置への影響を抑えた加熱測定装置を提供することにある。【解決手段】光学装置本体から被測定試料に照射する入射光を取り出す光取り出し手段と、被測定試料に照射する入射光を積分球8に導光する導光手段10,12と、光検出手段14,16と、検出結果伝達手段18,20と、を備えた測定部と、試料室42と、試料室42内の試料を加熱する加熱手段40と、積分球8内に導光された入射光を試料室42に通す開口43と、を備えた試料導入部と、前記入射光を試料室42に通す一定配置となるように積分球8と試料導入部を固定、且つ離脱可能とするための着脱部54と、を備えたことを特徴とする加熱測定装置。

請求項（抜粋）：

加熱状態での被測定試料の拡散反射スペクトルを測定する加熱測定装置において、光学装置本体から被測定試料に照射する入射光を取り出す入射光取り出し手段と、前記入射光取り出し手段によって取り出した入射光を前記光学装置本体から離れた位置に存在する積分球内に導光する屈曲自在の導光手段と、被測定試料の情報を有する拡散反射光を検出する光検出手段と、前記光検出手段によって検出された検出結果を光学装置本体或いは、前記検出結果を解析可能な機器に伝達する検出結果伝達手段と、を備えた測定部と、試料室と、該試料室内の試料を加熱する加熱手段と、前記測定部の積分球内に導光された入射光を該試料室に通す開口と、を備えた試料導入部と、前記測定部の積分球と前記試料導入部の開口が、前記入射光を前記試料室に通す一定配置となるように該積分球と試料導入部を固定、且つ離脱可能とするための着脱部と、を備えたことを特徴とする加熱測定装置。

IPC (2件)：

G01N 21/27 , G01N 21/01

FI (2件)：

G01N 21/27 B , G01N 21/01 C

Fターム (19件)：

2G059AA01 , 2G059BB01 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059HH03 , 2G059JJ01 , 2G059JJ16 , 2G059JJ17 , 2G059JJ23 , 2G059KK02 , 2G059LL04 , 2G059MM01 , 2G059MM09 , 2G059NN01 , 2G059NN02

引用特許：

審査官引用 (12件)

特開昭63-033643
特開昭62-076433
特開平3-255351

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