特許
J-GLOBAL ID:200903077901025205

半導体発光装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 曉司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-275399
公開番号(公開出願番号):特開平8-213652
出願日: 1995年10月24日
公開日(公表日): 1996年08月20日
要約:
【要約】【目的】 クラッド層の構造を最適化することにより、素子特性の向上、コスト低減を達成すること。【構成】 第1導電型のAlGaAsP又はAlGaAsからなる第1クラッド層と、該第1クラッド層に隣接して、第1導電型のAlGaInP又はAlInPからなる厚さ0.5μm以下の第2クラッド層と、該第2のクラッド層に隣接して、第1又は第2導電型のAlGaInP又はGaInPからなる厚さ0.1〜1μmの活性層と、該活性層に隣接して、第2導電型のAlGaInP又はAlInPから成る厚さ0.5μm以下の第3クラッド層と、該第3クラッド層に隣接して、第2導電型のAlGaP又はGaPからなる光取り出し層を有することを特徴とする半導体発光装置。
請求項(抜粋):
第1導電型のAlGaAsP又はAlGaAsからなる第1クラッド層と、該第1クラッド層に隣接して、第1導電型のAlGaInP又はAlInPからなる厚さ0.5μm以下の第2クラッド層と、該第2のクラッド層に隣接して、第1又は第2導電型のAlGaInP又はGaInPからなる厚さ0.1〜1μmの活性層と、該活性層に隣接して、第2導電型のAlGaInP又はAlInPから成る厚さ0.5μm以下の第3クラッド層と、該第3クラッド層に隣接して、第2導電型のAlGaP又はGaPからなる光取り出し層を有することを特徴とする半導体発光装置。
IPC (2件):
H01L 33/00 ,  H01L 21/205
引用特許:
審査官引用 (7件)
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