特許
J-GLOBAL ID：200903078427059760

軽元素を含有する固体試料の組成比分析方法

発明者：
大石 昌弘

大石 昌弘 について

, 
福田 啓一

福田 啓一 について


出願人/特許権者：
ティーディーケイ株式会社

ティーディーケイ株式会社 について


代理人 (1件)： 田村 敬二郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-048991
公開番号（公開出願番号）：特開2003-247920
出願日： 2002年02月26日
公開日（公表日）： 2003年09月05日
要約：
【要約】【課題】 前処理を必要としないかもしくは簡便な前処理のみで、軽元素を含む固体試料の組成元素比を決定できる分析方法を提供する。【解決手段】 軽元素を含有する固体試料にレーザを照射してアブレーションを生ぜしめ、生じたガス化物をキャリアガスにより元素分析装置に誘導して元素分析を行い、元素分析の結果を用いて固体試料を構成する元素の組成比を決定する分析方法。
請求項（抜粋）：
軽元素を含有する固体試料にレーザを照射してレーザアブレーションを生ぜしめ、前記レーザアブレーションにより生じた微粉体物若しくはガス化物をキャリアガスにより元素分析装置に誘導して前記固体試料を構成する元素の元素分析を行い、前記元素分析の結果を用いて前記固体試料を構成する元素の組成比を決定する、軽元素を含有する固体試料の組成比の分析方法。
IPC (3件)：
G01N 1/28 ,  G01N 21/73 ,  G01N 27/62
FI (3件)：
G01N 21/73 ,  G01N 27/62 V ,  G01N 1/28 T
Fターム (40件)：
2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043BA01 ,  2G043CA05 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA08 ,  2G043FA07 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA04 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G052AA00 ,  2G052AA39 ,  2G052AB01 ,  2G052AD32 ,  2G052AD35 ,  2G052AD42 ,  2G052AD55 ,  2G052CA04 ,  2G052CA14 ,  2G052EB02 ,  2G052EB06 ,  2G052EB11 ,  2G052FD01 ,  2G052FD08 ,  2G052FD09 ,  2G052FD13 ,  2G052GA09 ,  2G052GA15 ,  2G052GA19 ,  2G052GA24 ,  2G052HA19
引用特許：
審査官引用 (6件)
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