特許
J-GLOBAL ID:200903079103870039
超音波診断装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
吉田 研二
, 石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-185892
公開番号(公開出願番号):特開2005-034633
出願日: 2004年06月24日
公開日(公表日): 2005年02月10日
要約:
【課題】超音波診断装置において2Dアレイ振動子上に複数のサブアレイを設定する場合にビーム走査方向によらずにビームプロファイルを良好にする。【解決手段】ビーム走査方位に応じて、各サブアレイのサブアレイ形状パターンが適応的に変更される。各サブアレイは複数のグループによって構成される。各グループは複数の振動素子によって構成される。ビーム走査方向に応じたサブアレイ形状パターンの変化に伴って、各グループのグループ形状パターンも変化する。各サブアレイごとにサブアレイ形状が変化するが、その形状の変化の最大の外縁をもって変動領域が定められる。複数のサブアレイ間において、変動領域は互いに部分的にオーバーラップする。2Dアレイ振動子上において、複数のサブアレイは、その形状の変動によっても、常に互いに密に連結する。【選択図】図5
請求項(抜粋):
2次元的に配列された複数の振動素子を有するアレイ振動子と、
前記複数の振動素子に対して複数のサブアレイを設定するスイッチング部と、
前記アレイ振動子から出力された複数の受信信号を処理する受信処理部と、
を含み、
前記スイッチング部は、前記アレイ振動子における少なくとも1つのサブアレイのサブアレイ形状パターンを変更することを特徴とする超音波診断装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (9件):
4C601BB03
, 4C601EE01
, 4C601EE04
, 4C601GB06
, 4C601HH22
, 4C601HH29
, 4C601HH31
, 4C601JB08
, 4C601JB10
引用特許:
出願人引用 (4件)
-
超音波診断装置のビームフォーマ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-098635
出願人:松下電器産業株式会社
-
超音波診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-282594
出願人:アロカ株式会社
-
超音波診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-143326
出願人:松下電器産業株式会社
-
米国特許第5832923号明細書
全件表示
審査官引用 (1件)
前のページに戻る