特許
J-GLOBAL ID：200903079212441768
波形分析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
浅見 保男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-276697
公開番号（公開出願番号）：特開2001-100763
出願日： 1999年09月29日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：
【要約】【課題】 原波形の有用な周波数成分を高精度に分析できる波形分析方法を提供する。【解決手段】 波形合成により波形を作成するためのツールとして用いる波形分析方法である。S33において、原波形データWAVEから1フレーム長の波形データを1フレームの期間がオーバーラップするように順次に切り出し、FFT分析処理を行い、周波数成分の周波数、振幅、位相が検出される。そこで、前後する周波数の振幅よりも大きい振幅(ピーク振幅)を有する複数の周波数成分を軌跡データDD(i)として出力する。次に、軌跡DD(i)から合成された波形SW(i)を被分析波形IW(i)から差し引いた残余波形データRW(i)を、新たに被分析波形IW(i)として、再度FFT分析する。
請求項（抜粋）：
分析区間を移動させながら原波形のスペクトルを分析し、各分析区間における周波数スペクトルのピークに関して軌跡データを取り出す波形分析方法であって、前記原波形に対し、第1回目のスペクトル分析をする過程と、前記第1回目のスペクトル分析の結果から、第1の判定条件にしたがって、第1の前記軌跡データを取り出す過程と、前記第1の軌跡データに基づいて第1の合成波形を生成する過程と、前記原波形から前記第1の合成波形を減算して残余波形を生成する過程と、前記残余波形に基づく波形に対し、第2回目のスペクトル分析をする過程と、前記第2回目のスペクトル分析の結果から、前記第1の判定条件に比べて緩和された第2の判定条件にしたがって、第2の前記軌跡データを取り出す過程、を有し、少なくとも前記第1,第2の軌跡データを波形分析結果とすることを特徴とする波形分析方法。
IPC (3件)：
G10H 7/02
, G10H 7/08
, G10L 11/00
G10H 7/00 521 F
, G10H 7/00 532 Z
, G10L 7/02 A
