特許
J-GLOBAL ID：200903080577538025

アナログデジタル変換装置、アナログデジタル変換方法、試験装置、および、プログラム

発明者：
浅見 幸司

浅見 幸司 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 龍華 明裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-117211
公開番号（公開出願番号）：特開2009-267931
出願日： 2008年04月28日
公開日（公表日）： 2009年11月12日
要約：
【課題】インターリーブ型のアナログデジタル変換装置において、各ADコンバータで生じる非線形歪および線形歪を小規模の回路で補償する。【解決手段】アナログの入力信号をデジタルの出力信号に変換するアナログデジタル変換装置であって、所定位相ずつ異なるサンプリングクロックが与えられ、それぞれが、与えられたサンプリングクロックにより入力信号をデジタル化した個別信号を出力する複数のADコンバータと、それぞれの個別信号に生じる非線形歪のうち、共通する共通非線形歪を、それぞれの個別信号に対して共通に補償する共通補償部と、それぞれの個別信号に生じる非線形歪のうち、共通非線形歪以外の個別非線形歪を、それぞれの個別信号に生じる線形歪とあわせて、それぞれの個別信号に対して個別に補償する複数の個別補償部と、それぞれの個別信号に基づいて、出力信号を合成する合成部とを備えるアナログデジタル変換装置を提供する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
アナログの入力信号をデジタルの出力信号に変換するアナログデジタル変換装置であって、 所定位相ずつ異なるサンプリングクロックが与えられ、それぞれが、与えられた前記サンプリングクロックにより前記入力信号をデジタル化した個別信号を出力する複数のADコンバータと、 所定の共通非線形歪を、それぞれの前記個別信号に対して共通に補償する共通補償部と、 それぞれの前記個別信号に生じる前記非線形歪と、前記共通非線形歪との比により得られる個別非線形歪を、それぞれの前記個別信号に生じる線形歪とあわせて、それぞれの前記個別信号に対して個別に補償する複数の個別補償部と、 それぞれの前記個別信号に基づいて、前記出力信号を合成する合成部と を備えるアナログデジタル変換装置。
IPC (1件)：
H03M 1/10
FI (1件)：
H03M1/10 A
Fターム (8件)：
5J022AA01 ,  5J022AC04 ,  5J022BA04 ,  5J022BA10 ,  5J022CB06 ,  5J022CC03 ,  5J022CD02 ,  5J022CE01
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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