特許
J-GLOBAL ID：200903080771344436
質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-349174
公開番号（公開出願番号）：特開2005-116340
出願日： 2003年10月08日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：
【課題】 周回軌道を有する質量分析装置において採取するデータ量を削減する。 【解決手段】 イオン源1からイオンが出射した時点から、そのイオンが周回軌道Aを所定回数周回して軌道Aを離脱するための電圧をゲート電極21に印加するまでの期間中は、時間計測のみを実行する。そして、計時がTgになってゲート電極21への印加電圧を変更した時点から、データ処理部6ではイオン検出器3による検出データの採取を開始しメモリ61へと格納し始める。計時がTgになるまでは検出器3の出力は有意な変動をしないから、精度等を損なうことなくデータ量を大幅に減らしてメモリを節約することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
a)イオン源から出発した各種イオンを、飛行空間内に設定された所定の軌道に沿って複数回繰り返し飛行させる飛行制御手段と、
b)前記軌道を所定回数繰り返し飛行した後のイオンを検出する検出手段と、
c)イオンが前記軌道に沿って飛行している途中の時点若しくは該軌道を離れて前記検出手段に向かう時点、又はそれら時点であると推測される時点のいずれかにおいて、前記検出手段で検出されるイオン強度データの採取を開始するデータ処理手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J49/40
, G01N27/62
, H01J49/06
H01J49/40
, G01N27/62 D
, G01N27/62 E
, G01N27/62 K
, H01J49/06
出願人引用 (2件)
審査官引用 (5件)
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引用文献：
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