特許
J-GLOBAL ID:200903080796398590
物品認識方法、部品移載方法及び物品認識装置、並びに同物品認識装置を備えた表面実装機、同部品試験装置、同ディスペンサ、同実装基板検査装置及び同印刷基板検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
小谷 悦司
, 植木 久一
, 樋口 次郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-382830
公開番号(公開出願番号):特開2005-147760
出願日: 2003年11月12日
公開日(公表日): 2005年06月09日
要約:
【課題】 認識精度をより向上させるとともに、光学部品の使用自由度を高めて生産効率を向上させることができる物品認識方法や装置を提供する。【解決手段】 撮像手段18と、電子回路構成物品Cと撮像手段18との間の光路上に設けられた光学部品22とを備え、光学部品22を介して撮像した電子回路構成物品Cの画像に基づき物品の状態を認識する物品認識装置20であって、画像の歪み成分が測定できるテスト用被写体と光学部品22と撮像手段18との配置を、電子回路構成物品Cを撮像するときの配置と略同一としたうえで、テスト用被写体を撮像したときに生じる画像の歪み成分を測定する歪み成分測定手段と、測定結果を記憶する記憶手段と、電子回路構成物品Cの認識時に、記憶された画像の歪み成分に基づいて補正して電子回路構成物品Cの状態を認識する認識手段とを備えるように構成する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
電子回路構成物品を、光学部品を介して撮像手段により撮像し、その画像に基づき物品の状態を認識する物品認識方法であって、
該電子回路構成物品の認識に先立ち、画像の歪み成分が測定できるテスト用被写体を、上記撮像手段との間の光路上に上記光学部品を配置した状態で撮像し、
撮像された上記テスト用被写体の画像の歪み成分を測定し、記憶しておき、
該電子回路構成物品の認識時には、該電子回路構成物品と上記光学部品と上記撮像手段との配置が、上記テスト用被写体と上記光学部品と上記撮像手段との配置と略同一になるようにした状態で該電子回路構成物品を撮像し、
撮像された該電子回路構成物品の画像を、記憶された上記画像の歪み成分に基づいて補正して該電子回路構成物品の状態を認識することを特徴とする物品認識方法。
IPC (7件):
G01B11/00
, G01B11/16
, G01N21/956
, G03B15/00
, H05K3/34
, H05K13/04
, H05K13/08
FI (8件):
G01B11/00 H
, G01B11/16 H
, G01N21/956 B
, G03B15/00 T
, H05K3/34 512B
, H05K13/04 B
, H05K13/08 Q
, H05K13/08 U
Fターム (66件):
2F065AA03
, 2F065AA07
, 2F065AA65
, 2F065BB02
, 2F065CC25
, 2F065EE08
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065FF61
, 2F065GG07
, 2F065GG15
, 2F065HH02
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ08
, 2F065LL12
, 2F065QQ03
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065RR07
, 2F065UU05
, 2F065UU09
, 2G051AA61
, 2G051AB14
, 2G051BA01
, 2G051BA20
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA07
, 2G051DA13
, 2G051EA23
, 5E313AA03
, 5E313AA11
, 5E313AA18
, 5E313CC03
, 5E313CC04
, 5E313CC05
, 5E313DD02
, 5E313DD03
, 5E313DD05
, 5E313DD13
, 5E313EE02
, 5E313EE03
, 5E313EE05
, 5E313EE24
, 5E313EE25
, 5E313EE35
, 5E313EE37
, 5E313FF24
, 5E313FF26
, 5E313FF28
, 5E313FF32
, 5E313FF33
, 5E313FF40
, 5E313FG02
, 5E313FG04
, 5E313FG08
, 5E313FG10
, 5E319AA03
, 5E319AC01
, 5E319BB05
, 5E319CC61
, 5E319CD04
, 5E319CD51
, 5E319GG09
, 5E319GG15
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (5件)
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