特許
J-GLOBAL ID：200903081130604027

画像表示装置

発明者：
後藤 良洋

後藤 良洋 について

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長岡 孝行

長岡 孝行 について

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中川 徹

中川 徹 について


出願人/特許権者：
株式会社日立メディコ

株式会社日立メディコ について


代理人 (1件)： 高橋 浩三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-289950
公開番号（公開出願番号）：特開2006-101975
出願日： 2004年10月01日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：
【課題】通常のレントゲン画像上では発見できないような異常陰影をレントゲン画像上でも容易に発見できるようにする。【解決手段】断層画像に基づいてCADや読影によって発見された異常陰影などを特定領域として、その座標を取得するものである。取得された特定領域の座標を、レントゲン画像上の座標又は領域に変換し、変換後の座標又は領域を特定することができるように通常のレントゲン画像上にマークを付けて表示する。これによって、レトゲン画像上にその特定領域がマーキングされて表示されるので、その部位をレントゲン画像上で容易に確認することができる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
断層画像上の特定領域の座標を取得する座標取得手段と、 前記座標取得手段によって取得された前記特定領域の座標を、レントゲン画像上の座標又は領域に変換する座標変換手段と、 前記座標変換手段によって変換後の前記座標又は前記領域を特定することができるように前記レントゲン画像上にマークを付けて表示する表示手段と を備えたことを特徴とする画像表示装置。
IPC (3件)：
A61B 6/03 ,  G06T 1/00 ,  G06T 3/00
FI (5件)：
A61B6/03 360P ,  A61B6/03 360Q ,  A61B6/03 370E ,  G06T1/00 290A ,  G06T3/00 300
Fターム (27件)：
4C093BA17 ,  4C093CA21 ,  4C093DA03 ,  4C093FF34 ,  4C093FF36 ,  4C093FF37 ,  4C093FF45 ,  4C093FG05 ,  4C093FG07 ,  4C093FG13 ,  5B057AA08 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CD14 ,  5B057CD20 ,  5B057CE08 ,  5B057CH20 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (6件)
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