特許
J-GLOBAL ID：200903081367648991

物品の劣化診断方法,品質検査方法,素材判定方法および診断装置,物品の劣化管理方法

発明者：
竹澤 由高

竹澤 由高 について

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片桐 純一

片桐 純一 について

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庄司 弘志

庄司 弘志 について

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大高 健一

大高 健一 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-197654
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014621
出願日： 2001年06月29日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
要約：
【要約】【課題】本発明は、物品を評価する評価方法及び、それを用いた物品の劣化度を診断する劣化診断装置,内部素材を判定する素材同定装置、及び品質を管理する品質管理装置を提供する。【解決手段】物品に偏光性を有する光を照射し、物品からの反射光の偏光の変化度を測定し、予め入力された該物品の品質と偏光の変化度との相関関数を用いて物品の品質を診断する。また、物品の二波長間の反射吸光度差あるいは反射吸光度比、及び物品表面からの反射光の偏光の解消度を測定することにより、物品の品質を診断する。【効果】簡便な装置で物品の品質を非破壊的に診断することができる。また、欠陥を要因ごとに判定することができる。
請求項（抜粋）：
偏光性を有する照射光を物品の表面に照射する光源部と、該物品からの反射光を受光する受光部と、該照射光と該反射光の変化量を測定する測定部と、測定した該変化量により該物品の劣化度を診断する診断部とを有することを特徴とする物品の劣化診断装置。
IPC (3件)：
G01N 21/21 ,  G01N 21/27 ,  G01R 31/12
FI (3件)：
G01N 21/21 Z ,  G01N 21/27 B ,  G01R 31/12 B
Fターム (23件)：
2G015AA04 ,  2G015AA27 ,  2G015CA20 ,  2G015CA21 ,  2G059AA05 ,  2G059BB15 ,  2G059EE01 ,  2G059EE05 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG04 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059NN01
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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