特許
J-GLOBAL ID：200903081771103052
3次元形状測定装置および方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
澤田 俊夫
, 宮田 正昭
, 山田 英治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-238896
公開番号（公開出願番号）：特開2006-058092
出願日： 2004年08月18日
公開日（公表日）： 2006年03月02日
要約：
【課題】 パターンのエッジを安定して抽出する。 【解決手段】 各々のストライプに対し、ストライプの両端に、ストライプ間の境界を明確にするため、ストライプ配列の濃度順に応じ、最高濃度または最低濃度のラインパターンを形成する。各々のストライプに対し形成するラインパターンの濃度の決定法は、該当するストライプの濃度に対し、隣接するストライプの濃度が高い場合には最低濃度のラインパターンを形成し、逆に、該当するストライプの濃度に対し、隣接するストライプの濃度が低い場合には最高濃度のラインパターンを形成する。各ストライプの両端に最高濃度および最低濃度のラインパターン対を形成した多値パターン光を対象物10に照射し、投光系と主点を異なる位置に配置した撮像手段であるカメラ12、13にて、対象物10上のパターン投影像を撮像し、投射パターン光とパターン投影像にて対応づけを行う。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
複数の濃度を有するストライプの組み合わせで構成されたストライプパターンを対象物に投光する投光手段と、該投光手段と主点を異なる位置に配置した一乃至複数の撮像手段とを有して構成される3次元形状測定装置において、該ストライプパターン中の隣接するストライプの間に最高濃度および最低濃度のラインの対を設けたことを特徴とする3次元形状計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/24 E
, G06T1/00 315
2F065AA04
, 2F065AA06
, 2F065AA12
, 2F065AA53
, 2F065FF07
, 2F065FF09
, 2F065HH06
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065LL00
, 2F065UU01
, 5B057BA02
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB13
, 5B057CB16
