特許
J-GLOBAL ID：200903081801434652

電気移動度分級装置及び微粒子成分の計測システム

発明者：
出口 祥啓

出口 祥啓 について

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田中 伸幸

田中 伸幸 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について

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財団法人電力中央研究所

財団法人電力中央研究所 について


代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-254044
公開番号（公開出願番号）：特開2007-064893
出願日： 2005年09月01日
公開日（公表日）： 2007年03月15日
要約：
【課題】微粒子に付着又は含有する化学成分のみの分析を良好に行うことができる電気移動度分級装置を提供する。【解決方法】第1の分級装置本体13-1内に配設され、分級粒子を排出する第1の環状スリット14-1を有すると共に第1の高電圧源15-1に接続されてなる第1のロッド16-1と、第1の分級装置本体内を循環するシースガス17と、分級粒子を排出する第1の分級管18-1とからなる第1の電気移動度分級部19-1と、連通管20を介して供給された分級粒子11aを導入する第2の分級装置本体13-2内に配設され、所定粒径の微粒子を排出する第2の環状スリット14-2を有すると共に高電圧源15-2に接続されてなる第2のロッド16-2と、第2の分級装置本体13-2内を循環するシースガス17と、分級された分級粒子11aを排出する第2の分級管18-2とからなる第2の電気移動度分級部19-2とを具備する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
帯電した微粒子を電気移動度に応じて粒径毎に分級する電気移動度分級装置であって、 帯電した微粒子を導入する第1の分級装置本体内に配設され、所定粒径の微粒子を排出する第1のスリットを有すると共に高電圧源に接続されてなる第1のロッドと、第1の分級装置本体内を循環するシースガスと、分級された微粒子を排出する第1の分級管とからなる第1の電気移動度分級部と、 第1の電気移動度分級部の第1の分級管から供給された帯電した微粒子を導入する第2の分級装置本体内に配設され、所定粒径の微粒子を排出する第2のスリットを有すると共に高電圧源に接続されてなる第2のロッドと、第2の分級装置本体内を循環するシースガスと、分級された微粒子を排出する第2の分級管とからなる第2の電気移動度分級部と、 を具備することを特徴とする電気移動度分級装置。
IPC (3件)：
G01N 27/60 ,  G01N 15/02 ,  G01N 27/62
FI (3件)：
G01N27/60 C ,  G01N15/02 F ,  G01N27/62 Z
Fターム (2件)：
2G041BA02 ,  2G041BA12
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)

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