特許
J-GLOBAL ID：200903082203592126

電気設備診断システム

発明者：
中村 久栄

中村 久栄 について


出願人/特許権者：
株式会社トーエネック

株式会社トーエネック について


代理人 (1件)： 清水 義久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-069854
公開番号（公開出願番号）：特開2006-250818
出願日： 2005年03月11日
公開日（公表日）： 2006年09月21日
要約：
【課題】 電気設備の巻線部に所定のインパルスを印加して得られた特徴量の波形パターンに、隠れマルコフモデルを適用した波形パターンの形状から巻線部を診断し、判定できる電気設備診断システムを提供する。【解決手段】 電気設備の巻線部2にインパルス発生回路3から所定のインパルスを印加し、特徴量検出部4により検出された特徴量をA/D変換回路5を介して学習部6に入力する。学習部6は、巻線部2の正常、故障、劣化の各状態に対応した各々の特徴量の波形パターンを隠れマルコフモデルに基づきパラメータ化して記憶する。巻線部2の診断の際は、インパルス発生回路3から上記所定のインパルスと同特性のインパルスを巻線部2に印加する。診断部7は、検出された特徴量の波形パターンの生成確率を、学習部6に記憶したパラメータに基づき演算して、生成確率が最大となるパラメータを決定し、巻線部2の状態を判定し、結果を表示部8に表示する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
電気設備を構成する巻線部を診断するための電気設備診断システムであって、 前記巻線部の特性に対応した所定のインパルスを発生させるインパルス発生手段と、前記巻線部の予め決められたそれぞれの状態において前記インパルス発生手段で発生されたインパルスを当該巻線部に印加した場合に得られた特徴量の波形パターンを隠れマルコフモデルに基づいてパラメータ化するとともに、それぞれのパラメータを記憶する学習手段と、前記巻線部の状態を診断する場合に、当該巻線部に前記インパルスと同特性のインパルスを印加したときに得られた特徴量の波形パターンの生成確率を前記学習手段に記憶されているそれぞれのパラメータに基づいて演算するとともに、当該生成確率が最大となるパラメータに基づいて前記巻線部の状態を診断し判定する診断手段とを備えたことを特徴とする電気設備診断システム。
IPC (2件)：
G01R 31/00 ,  G01R 31/34
FI (2件)：
G01R31/00 ,  G01R31/34 A
Fターム (16件)：
2G016BD06 ,  2G016BD08 ,  2G016BD09 ,  2G016BD11 ,  2G036AA24 ,  2G036AA27 ,  2G036BA01 ,  2G036CA06 ,  2G036CA10 ,  5H611AA05 ,  5H611BB01 ,  5H611BB02 ,  5H611PP02 ,  5H611PP06 ,  5H611QQ07 ,  5H611UA01
引用特許：
審査官引用 (4件)
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