特許
J-GLOBAL ID：200903082213068700

インサートおよびこれを備えた電子部品ハンドリング装置

発明者：
伊藤 明彦

伊藤 明彦 について

, 
中村 浩人

中村 浩人 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 早川 裕司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-252166
公開番号（公開出願番号）：特開2003-066104
出願日： 2001年08月22日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
要約：
【要約】【課題】 広範な種類のエリア・アレイ型電子部品を収納することができるとともに、エリア・アレイ型電子部品の外部端子とソケットの接続端子との確実な接続を実現することができるインサート、並びにこれを利用した電子部品試験装置および電子部品の試験方法を提供する。【解決手段】 ICデバイス2を保持する薄板163を、ICデバイス2の外部端子面23とソケット40の接続端子面42との間に位置させるとともに、薄板163の厚さを、外部端子22の先端部と外部端子面23との距離と略同一またはそれ以下とする。
請求項（抜粋）：
エリア・アレイ型電子部品の外部端子がソケットの接続端子方向へ露出するように、前記エリア・アレイ型電子部品の外部端子面を支持する支持部を有するインサートであって、前記支持部の厚さが、前記エリア・アレイ型電子部品の外部端子の接触部と前記エリア・アレイ型電子部品の外部端子面との距離と略同一またはそれ以下であり、前記支持部が、前記エリア・アレイ型電子部品の外部端子と前記ソケットの接続端子との接続時において、前記エリア・アレイ型電子部品の外部端子面と前記ソケットの接続端子面との間に位置するように設けられていることを特徴とするインサート。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/26
FI (4件)：
G01R 1/073 D ,  G01R 31/26 J ,  G01R 31/26 Z ,  G01R 31/28 J
Fターム (13件)：
2G003AA07 ,  2G003AG01 ,  2G003AG11 ,  2G003AG12 ,  2G003AG14 ,  2G011AA16 ,  2G011AC14 ,  2G011AE22 ,  2G132AE01 ,  2G132AE02 ,  2G132AF05 ,  2G132AF06 ,  2G132AL06
引用特許：
審査官引用 (6件)
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