特許
J-GLOBAL ID:200903082317291339

ZnO系半導体素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 岡田 賢治 ,  今下 勝博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-059025
公開番号(公開出願番号):特開2004-304166
出願日: 2004年03月03日
公開日(公表日): 2004年10月28日
要約:
【課題】 安定したP型ZnO層を備えたZnO系半導体素子を提供するため、ZnO薄膜中に高濃度で窒素原子をドーピングする。安定なP型ZnO層の作製により、作製が容易なN型ZnO層との組合せ或いは異なる組成のP型層若しくはN型層との組合せを可能とし、さまざまな形態のZnO系半導体素子を提供する。【解決手段】本発明に係るZnO系半導体素子は、N型層とP型層を各々1層以上有する半導体素子において、前記P型層のうち少なくとも1層は窒素原子をドープしたZn極性ZnO系半導体薄膜で形成し、該Zn極性ZnO系半導体薄膜は薄膜成長方向がZn極性方向([0001])であることを特徴とする。【選択図】図3
請求項(抜粋):
N型層とP型層を各々1層以上有する半導体素子において、前記P型層のうち少なくとも1層は窒素原子をドープしたZn極性ZnO系半導体薄膜で形成し、該Zn極性ZnO系半導体薄膜は薄膜成長方向がZn極性方向([0001])であることを特徴とするZnO系半導体素子。
IPC (3件):
H01L21/363 ,  H01L33/00 ,  H01S5/327
FI (3件):
H01L21/363 ,  H01L33/00 D ,  H01S5/327
Fターム (19件):
5F041CA03 ,  5F041CA41 ,  5F041CA55 ,  5F041CA66 ,  5F073CA22 ,  5F073CB19 ,  5F073DA06 ,  5F103AA04 ,  5F103AA10 ,  5F103DD30 ,  5F103GG01 ,  5F103HH03 ,  5F103JJ01 ,  5F103JJ03 ,  5F103KK10 ,  5F103LL02 ,  5F103NN01 ,  5F103NN10 ,  5F103RR05
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 半導体発光素子
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-311904   出願人:株式会社リコー
審査官引用 (3件)

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