特許
J-GLOBAL ID:200903082897355266

磁性粒子検出

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 青山 葆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-111643
公開番号(公開出願番号):特開2002-005892
出願日: 2001年04月10日
公開日(公表日): 2002年01月09日
要約:
【要約】【課題】 サンプル内部の磁性粒子の数を検出する方法及び装置を、簡易化しスピードを向上させる。【解決手段】 コンデンサとコイルを有する同調回路を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定する方法において、サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されたときと、サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されないときとの、同調回路の共振周波数の差異を判定するステップaと、共振周波数の差異を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定するステップbとを含む、方法を提供する。
請求項(抜粋):
コンデンサとコイルを有する同調回路を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定する方法であって、(ステップa)サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されたときと、サンプルがコイルにより形成された磁場に晒されないときとの、同調回路の共振周波数の差異を判定するステップaと、(ステップb)共振周波数の差異を利用してサンプル内部の磁性粒子の数を判定するステップbとを含む、方法。
IPC (2件):
G01N 27/72 ,  G01N 33/543 541
FI (2件):
G01N 27/72 ,  G01N 33/543 541 A
Fターム (11件):
2G053AB01 ,  2G053BA02 ,  2G053BA04 ,  2G053BA08 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053CA03 ,  2G053CA19 ,  2G053DA02 ,  2G053DA07
引用特許:
審査官引用 (12件)
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