特許
J-GLOBAL ID：200903083576795643
状態分析器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-505148
公開番号（公開出願番号）：特表2000-517047
出願日： 1997年07月04日
公開日（公表日）： 2000年12月19日
要約：
【要約】本発明は、測定点(90)を有する機械(100)の状態を評価するための方法に関する。本方法は、可動分析装置(30)によって実行される。本方法は、測定点において測定することによって、機械の実際の状態に依存する状態値を生成する段階と、測定点(90)の側あるいは付近に設置された書き込み可能情報担体(120)に状態値を記憶して、状態値を実質上、基準状態値として用い得る段階とを有する。本発明は、さらに、前記方法を実行するための装置並びに分析装置と協働して機械(100)の測定点の側に搭載する装置に関する。
請求項（抜粋）：
測定点(90)を有する機械(100)の状態を評価するための方法であって、可動分析装置(30)によって実行され、 測定点において測定することによって、機械の実際の状態に依存する状態値を生成する段階を有する方法において、 測定点(90)の側あるいは付近に設置される書き込み可能情報担体(120)に状態値を記憶して、状態値を実質上、基準状態値として用いることができることを特徴とする方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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