特許
J-GLOBAL ID：200903083614674359

米粒品位判別装置

発明者：
原 正純

原 正純 について

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池田 学

池田 学 について

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土井 貴広

土井 貴広 について

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河村 陽一

河村 陽一 について

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中田 恵久

中田 恵久 について


出願人/特許権者：
株式会社サタケ

株式会社サタケ について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-401234
公開番号（公開出願番号）：特開2002-202265
出願日： 2000年12月28日
公開日（公表日）： 2002年07月19日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、受光手段の数を従来よりも減らし、かつ、正確な粒厚情報を得て米粒の品位判別を高精度で行う米粒品位判別装置を提供することを技術的課題とするものである。【解決手段】 受光手段17は、移送手段2によって移送される所定位置の米粒における平面部又は側面部のいずれか一方の面部と対向する位置に配設しするとともに、他方の面部の近傍には前記米粒から得られる光を前記受光手段17に向かわせる変向手段19を配設し、前記米粒及び変向手段19と受光手段17との間には、米粒の前記受光手段17と対向する一方の面部からの光と前記変向手段19からの光とを前記受光手段17に入光させる入光手段18を配設する。
請求項（抜粋）：
米粒を1粒ずつ移送する移送手段と、該移送手段によって移送される所定位置の米粒に複数の単色光を照射する照射手段と、該照射手段からの照射光を受けた米粒からの複数の単色光を複数画素で受光して各単色光に対応した信号を出力する受光手段と、該受光手段の各画素からの信号を基に米粒を複数の品位に判別する品位判別手段と、を備えてなる米粒品位判別装置において、前記受光手段は、前記所定位置の米粒における平面部又は側面部のいずれか一方の面部と対向する位置に配設するとともに、他方の面部の近傍には、前記米粒から得られる光を前記受光手段に向かわせる変向手段を配設し、前記米粒及び変向手段と受光手段との間には、米粒の前記受光手段と対向する一方の面部からの光と前記変向手段からの光とを前記受光手段に入光させる入光手段を配設したことを特徴とする米粒品位判別装置。
IPC (2件)：
G01N 21/85 ,  G01B 11/02
FI (2件)：
G01N 21/85 A ,  G01B 11/02 H
Fターム (29件)：
2F065AA23 ,  2F065AA30 ,  2F065BB05 ,  2F065CC00 ,  2F065FF41 ,  2F065GG07 ,  2F065GG21 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065LL46 ,  2F065LL49 ,  2F065MM02 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065RR06 ,  2F065TT03 ,  2G051AA04 ,  2G051BA01 ,  2G051BA08 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051CC20 ,  2G051DA01 ,  2G051DA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA17
引用特許：
審査官引用 (7件)
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