半導体試験装置の波形整形回路

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-284144
公開番号（公開出願番号）：特開平8-122408
出願日： 1994年10月25日
公開日（公表日）： 1996年05月17日
要約：

【要約】【目的】波形整形回路において任意のサイクルでI/O切り替え信号の出力モードを切り替える回路を実現する。【構成】波形データ及び禁止データを発生するパターン発生器10。波形データ及び禁止データを入力とし、SRフリップフロップの制御信号SET及びRESETの出力を制御するイネーブル信号生成回路13。イネーブル信号生成回路13の出力信号をLクロック及びTクロックで位相変更する位相変更回路14。各サイクルの基本クロックであるMクロック及びそれぞれ位相が違うLクロック、Tクロックを出力するタイミング発生器11。位相変更回路14の出力とLクロックまたはTクロックの論理積をSRフリップフロップのSET及びRESET信号とし、I/O切り替え信号を出力する波形生成回路15。以上で構成される。

請求項（抜粋）：

波形データ及び禁止データを発生するパターン発生器(10)と、波形データ及び禁止データを入力とし、SRフリップフロップの制御信号SET及びRESETの出力を制御するイネーブル信号生成回路(13)と、上記イネーブル信号生成回路(13)の出力信号をLクロック及びTクロックで位相変更する位相変更回路(14)と、各サイクルの基本クロックであるMクロック及びそれぞれ位相が違うLクロック、Tクロックを出力するタイミング発生器(11)と、上記位相変更回路(14)の出力とLクロックまたはTクロックの論理積をSRフリップフロップのSET及びRESET信号とし、I/O切り替え信号を出力する波形生成回路(15)と、を具備することを特徴とする半導体試験装置の波形整形回路。

引用特許：

審査官引用 (13件)

半導体試験装置の波形整形器
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-007274 出願人：株式会社アドバンテスト
デジタル・パターン発生器
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-085611 出願人：ソニー・テクトロニクス株式会社
デジタル・データ発生装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-066089 出願人：ソニー・テクトロニクス株式会社

全件表示

前のページに戻る