特許
J-GLOBAL ID：200903083685555121

実装基板の外観検査装置および外観検査方法

発明者：
矢野 啓司

矢野 啓司 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (1件)： 岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-232644
公開番号（公開出願番号）：特開2002-048731
出願日： 2000年08月01日
公開日（公表日）： 2002年02月15日
要約：
【要約】【課題】 単一の検査装置によって実装検査および半田検査が行え、検査工程の効率を向上させると共に設備費用を削減できる実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 電子部品が実装された基板2をカメラ5によって撮像して所定の検査を行う外観検査において、電子部品の有無および位置ずれを検査する実装検査においては、発光体4aの白色光を反射体4bによって全天方向から基板2に対して照射し、電子部品の半田付け状態を検査する半田検査においては、多段に配置されたLED光源部4c,4dによって検査対象部位に応じた特定方向から赤色の照明光を照射するようにした。これにより、単一の外観検査装置によって実装検査および半田検査の双方を行うことができる。
請求項（抜粋）：
電子部品が実装された実装基板を撮像して所定の検査を行う外観検査装置であって、実装基板を撮像するカメラと、撮像により得られた画像データを画像処理することにより少なくとも電子部品の有無および位置を検査する実装検査手段および電子部品の半田付け状態を検査する半田検査手段と、前記実装基板に対して白色照明光を照射する全天型の第1の照明手段と、前記実装基板に対して方向の異なる複数の特定方向から照明光を照射する多段型の第2の照明手段と、検査内容に応じて第1の照明手段と第2の照明手段とを切り換える照明切り換え手段とを備えたことを特徴とする実装基板の外観検査装置。
IPC (7件)：
G01N 21/956 ,  G01B 11/00 ,  G06T 1/00 305 ,  G06T 1/00 400 ,  G06T 1/00 430 ,  H05K 3/34 512 ,  H05K 13/08
FI (7件)：
G01N 21/956 B ,  G01B 11/00 H ,  G06T 1/00 305 B ,  G06T 1/00 400 D ,  G06T 1/00 430 G ,  H05K 3/34 512 B ,  H05K 13/08 U
Fターム (61件)：
2F065AA03 ,  2F065AA49 ,  2F065AA53 ,  2F065BB27 ,  2F065CC25 ,  2F065CC26 ,  2F065DD02 ,  2F065FF04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG17 ,  2F065GG24 ,  2F065HH12 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL19 ,  2F065MM03 ,  2F065NN02 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065TT02 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AB20 ,  2G051BA01 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051DA07 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA17 ,  5B047AA07 ,  5B047AA12 ,  5B047AB04 ,  5B047BB04 ,  5B047BC09 ,  5B047BC12 ,  5B047CA19 ,  5B047CB04 ,  5B047CB21 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CC01 ,  5B057CE16 ,  5B057CH18 ,  5B057DA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5E319CD53
引用特許：
審査官引用 (7件)
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