特許
J-GLOBAL ID：200903089850956665
乾式粒度分布測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河▲崎▼ 眞樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-030934
公開番号（公開出願番号）：特開2003-232714
出願日： 2002年02月07日
公開日（公表日）： 2003年08月22日
要約：
【要約】【課題】 被測定試料群を試料台やホッパにセットすることなく、従って手間を掛けたりこぼれることによる無駄を生じることなく、容易に粒度分布測定を行うことのできる乾式粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 回折・散乱光の測定空間Aに被測定粒子群Pをエアロゾル状に供給すべく測定空間Aに向けて開口した状態で固定されているノズル6aに対し、被測定粒子群Pを吸引する吸引手段6bの吸引口6cを、フレキシブルチューブ6dを介して移動自在に接続することにより、任意の容器V内に収容した被測定試料群P等を直接的に吸引して測定に供することを可能とし、試料台やホッパに被測定試料群Pをセットする手間と時間、およびその清掃作業等を省略することを可能とする。
請求項（抜粋）：
分散飛翔状態の被測定粒子群にレーザ光を照射する照射光学系と、そのレーザ光の被測定粒子群による回折・散乱光の空間強度分布を測定する測定光学系と、その測定結果から被測定粒子群の粒度分布を測定する演算手段を備えるとともに、上記照射光学系と測定光学系の間の測定空間に、吸引手段により被測定粒子群を吸引してノズルを介してエアロゾル状態で供給する乾式粒度分布測定装置において、上記吸引手段の被測定粒子群の吸引口が、上記測定空間に向けて開口するように固定されたノズルに対し、フレキシブルチューブを介して移動自在に接続されていることを特徴とする乾式粒度分布測定装置。
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示
前のページに戻る
