特許
J-GLOBAL ID:200903085862583575

顕微鏡システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 西澤 利夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-097924
公開番号(公開出願番号):特開2001-100102
出願日: 1998年04月09日
公開日(公表日): 2001年04月13日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 第一電子励起状態の分子を第二電子励起状態へ励起させるイレース光を、簡単でコンパクトな光学系を用いて、優れたビームプロファイルで集光させることができ、安定性および操作性が高く、優れた超解像性を有する、新しい顕微鏡システムを提供する。【解決手段】 分子を基底状態から第一電子励起状態へ励起させる波長λ1光の光源と、第一電子励起状態の分子を第二電子励起状態またはより高い電子励起状態へ励起させる波長λ2光の光源と、波長λ1光と波長λ2光とを調整された試料上に集光させる集光光学系と、調整された試料上における波長λ1光の照射領域および波長λ2光の照射領域を一部分重ね合わせる重ね手段とを備え、重ね手段を介して波長λ1光と波長λ2光とを照射することにより、分子が第一電子励起状態から基底状態へ脱励起する際の発光の領域を抑制する。
請求項(抜粋):
調整された試料と顕微鏡本体とを備えた顕微鏡システムであって、調整された試料は、少なくとも基底状態を含め3つの電子状態を有し、その第一電子励起状態から第二電子励起状態への励起波長帯域が、第一電子励起状態から基底状態の振動準位に蛍光過程により脱励起する際の蛍光波長帯域と重複している分子により染色されたものであり、顕微鏡本体は、分子を基底状態から第一電子励起状態へ励起させる波長λ1光の光源と、第一電子励起状態の分子を第二電子励起状態またはより高い電子励起状態へ励起させる波長λ2光の光源と、波長λ1光と波長λ2光とを調整された試料上に集光させる集光光学系と、調整された試料上における波長λ1光の照射領域および波長λ2光の照射領域を一部分重ね合わせる重ね手段と、励起された分子が基底状態へ脱励起する際の発光を検出する発光検出器とを備え、重ね手段を介して波長λ1光と波長λ2光とを照射することにより、分子が第一電子励起状態から基底状態へ脱励起する際の発光の領域を抑制するものであることを特徴とする光学顕微鏡システム。
IPC (2件):
G02B 21/00 ,  G02B 21/06
FI (2件):
G02B 21/00 ,  G02B 21/06
Fターム (9件):
2H052AA00 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AB24 ,  2H052AB26 ,  2H052AC14 ,  2H052AC34 ,  2H052AD34 ,  2H052AF07
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 多波長光光学顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-329165   出願人:新技術事業団, 池滝慶記
  • 多波長光光学顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-055714   出願人:新技術事業団, 池滝慶記
  • 光学顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-302232   出願人:科学技術振興事業団, オリンパス光学工業株式会社
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