特許
J-GLOBAL ID：200903086259816634
三次元形状計測装置、プログラム、コンピュータ読み取り可能な記録媒体、及び三次元形状計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
増井 義久
, 比村 潤相
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-306448
公開番号（公開出願番号）：特開2007-114071
出願日： 2005年10月20日
公開日（公表日）： 2007年05月10日
要約：
【課題】広い視野に渡る計測対象の三次元形状情報を迅速かつ容易に計測する。【解決手段】三次元形状測定装置10は、計測対象20に投影された光パタン30を解析することによって、計測対象20の三次元形状を計測する装置である。ここで、三次元形状測定装置10は、光パタン30が投影された計測対象20を画像として読み取るためのラインセンサ16と、ラインセンサ16により読み取られた画像における光パタン30を空間縞解析法に基づいて解析して、計測対象20の三次元形状の情報を算出する画像解析部とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
計測対象に投影された、位置に応じて周期的に輝度が変化する光パタンを解析することによって、計測対象の三次元形状を計測する三次元形状計測装置であって、
計測対象に投影された上記光パタンを画像として読み取るためのラインセンサと、
上記ラインセンサにより読み取られた画像に含まれる或る画素における光パタンの位相を、上記画像における上記画素とその周辺の画素との輝度値に基づいて算出し、算出した位相に基づいて上記計測対象の高さ情報を算出する画像解析部とを備えていることを特徴とする三次元形状計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2F065AA23
, 2F065AA24
, 2F065AA53
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065FF44
, 2F065HH07
, 2F065JJ25
, 2F065QQ31
出願人引用 (2件)
審査官引用 (8件)
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