特許

J-GLOBAL ID：200903086590510600

特定サンプルスペクトルの変換を用いた多変量解析検量線の作成方法

発明者： 尾崎 幸洋 ,  渡 正博
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-302667
公開番号（公開出願番号）：特開2006-112997
出願日： 2004年10月18日
公開日（公表日）： 2006年04月27日
要約：

【課題】 検量線の精度を向上させるためにサンプルスペクトルの一部を変換させた多変量解析検量線の作成方法を提供する。【解決手段】 近赤外分光器で測定される複数の試料スペクトルをもとに検量線を作成する検量線作成方法であって、 複数試料のスペクトルを測定する工程と 前記測定したスペクトルを解析する工程と 前記解析したスペクトルをファクター/スコア解析しプロットする工程と、 プロットした複数のサンプルスペクトルのうち集団から外れているサンプルスペクトルをスコアプロット上で同一集団と見なせるように所定の方法で変換させる工程と、 前記変換させた状態でのスペクトルと同一集団に属する変換しないサンプルスペクトルをもとに検量線を作成する工程と、 作成した検量線を評価する工程と、 を含むことを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

近赤外分光器で測定される複数の試料スペクトルをもとに検量線を作成する検量線作成方法であって、 複数試料のスペクトルを測定する工程と 前記測定したスペクトルを解析する工程と 前記解析したスペクトルをファクター/スコア解析しプロットする工程と、 プロットした複数のサンプルスペクトルのうち集団から外れているサンプルスペクトルをスコアプロット上で同一集団と見なせるように所定の方法で変換させる工程と、 前記変換させた状態でのスペクトルと同一集団に属する変換しないサンプルスペクトルをもとに検量線を作成する工程と、 作成した検量線を評価する工程と、 を含むことを特徴とする特定サンプルスペクトルの変換を用いた多変量解析検量線の作成方法。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/35

FI (2件)：

G01N21/27 F ,  G01N21/35 Z

Fターム (11件)：

2G059AA01 ,  2G059AA03 ,  2G059BB08 ,  2G059BB15 ,  2G059CC12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059MM02 ,  2G059MM12

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 近赤外分光分析計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-096740   出願人：横河電機株式会社

審査官引用 (2件)

• 近赤外分析法における検量線の作成方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-186204   出願人：井関農機株式会社
• スペクトロメータ機器を特徴付けし、かつ機器較差を補正する校正モデルを提供する方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2002-528786   出願人：センシスメディカルインク